ВЕПРИК ВИКТОР ГАВРИЛОВИЧ

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (iii942189 (6 l ) Допол н и тел ьное к а вт. с вид- ву (22) Заявлено 17.1 L.80.(2I ) 3004432/4.8-2l 4 с присоединением заявки ¹ (23) Нриоритет Опубликовано 07.07.82,Бюллетень №25 Дата опубликования описания 09,07.82. (51)М. Кл. Н ОМ 37/23. 1Ъеударетиннмй квинтет CCCP ае делам кз...

  УСТРОЙСТВО ОТСЧЕТА И РЕГУЛИРОВКИ УВЕЛИЧЕНИЯ В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ, содержащее соединенный с отклоняющей системой: канал.формирования разверток, включающий задающий генератор, регулятор увеличения и усилитель тока развертки , канал фокусировки электронного зонда, включающий соединенный с формирующей линзой стабилизатор тока,, вычислительный канал, вклю-г чающий аналог...

  Изобретение относится к конструкции электромагнитных линз с о.хлаждаемой обмоткой и может быть использовано в электронно-лучевых приборах, в частности в электронных микроскопах, рентгеновских микроанализаторах , электронографах и других аналогичных приборах. Цель изобретения - уменьшение габаритов и металлоемкости линзы - достигается в результате увеличения допустимой плотности т...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК ÄÄSUÄÄ 1415269 A 1 (51) 4 !1 01 J 37/26 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А BTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3871268/24-21 (22) 25.03.85 (46) 07.08.88. Бюл. ¹ 29 (71) Сумское производственное об1еди)(снис «Электрон» (72) И. С., !ялько, P. А. Гришин, В. Г. Веприк, B. (!. Удальцев, Д. С....

  Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано при разработке охлаждаемых электромагнитных линз (ЭМЛ) для электронно-оптических систем. Цель изобретения - повышение термостабильности ЭМЛ4 ПУТЕМ ВВЕДЕНИЯ ДОПОЛНИТЕЛЬНОГО ОХЛАЖДАЮЩЕГО ЭЛЕМЕНТА В ВИДЕ ТЕРМОБАТАРЕИ (ТБ). ЭМЛ содержит магнитопровод, обмотку возбуждения, размещенную внутри герметизированного ко...

  Изобретение относится к диафрагмирующим управляемым устройствам электронной микроскопии и может использоваться в качестве исполнительного механизма, работающего автономно в вакууме. Цель изобретения - повышение точности позиции опирования достигается за счет введения пьезокерамического привода и элементов, обеспечивающих азимутальное и продольное перемещение диафрагмы. Диафрагма с...

  Изобретение относится к устройствам для исследования микроструктуры и топографии твердых тел. Цель изобретения - повышение надежности и упрощение конструкции достигается путем размещения пьезоподъемника в зондовой карте и выполнения его в виде биморфного пьезокерамического кольца, на котором закреплены зондирующие иглы. Устройство содержит столик, над которым расположена зондовая...

  Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для локального количественного контроля и анализа параметров сверхбольших интегральных схем при их изгртовлении„ Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение надежности о Устройство содержит зондовую карту 5, в которой установлено кольцо 6 с зондирующими иглами 7„ Подъемник выполнен в виде кольцевог...

  Изобретение относится к испытательной технике, а именно к средствам исследования образцов материалов под нагрузкой в электронном микроскопе Цель изобретения - упрощение конструкции. Приспособление содержит вакуумируемый корпус 1 с основанием 2, нагружатель из двух соосных С-образных элементов 3 и 4, изготовленных из материалов с термомеханической памятью , и закрепленные на полка...

  Изобретение относится к технике электронной микроскопии, в частности к устройствам для наклона столиков объектов в растровых электронных микроскопах. Целью изобретения является повышение точности позиционирования столика за счет исключения влияния упругих деформаций его составных элементов. Для этого в устройстве наклона привод вращения кронштейна , на котором закреплен столик, о...

  Изобретение относится к системам тестирования полупроводниковых микросхем в растровых электронных микроскопах и может найти применение в полупроводниковых технологиях, микроэлектронике, литографии и приборостроении при получении информации о физических свойствах 8 8 S 7 поверхностей материалов, например, сверхбольших интегральных схем, Цель изобретения - повышение точности позици...