Смирнов Евгений Николаевич (UA)

 Изобретение относится к оптическим измерительным устройствам, в частности к способам и средствам оптической профилометрии и/или профилографии. Способ заключается в том, что предварительно сканируют световым пучком эталонную поверхность, а затем по тем же траекториям сканируют исследуемую поверхность. При этом последовательно сканируют исследуемую и эталонную поверхности двумя световыми пу...

Способ обжатия непрерывнолитой сортовой заготовки в жидко-твердом состоянии относится к металлургии, а точнее - к обработке металлов давлением и может быть использован при деформировании непрерывнолитых заготовок и блюмов в жидко-твердом состоянии. Непрерывнолитая заготовка получает деформацию в зоне вероятного остаточного затвердевания, когда она находится в двухфазном состоянии в обжимных клет...

Группа изобретений, раскрывающая способ определения параметров объекта и устройство для его реализации, относится к методам дифференциально-фазовой профилометрии и используется для экспресс-анализа с целью определения количества и размеров частиц в маслах, в прозрачных веществах и биологических средах. Способ определения параметров объекта и устройство для его реализации реализуется путем непосред...