PatentDB.ru — поиск по патентным документам

БАХТИН ЮРИЙ ИОСИФОВИЧ

Изобретатель БАХТИН ЮРИЙ ИОСИФОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения толщины полупроводниковых пленок

Устройство для измерения толщины полупроводниковых пленок

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сеюз Советскнх Соцнаинстнческнк Респубанк < >947645 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 2804,77 (21) 2480821/18-28 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет Опубликовано 300782. Бюллетень Р 28 (31) М. Кл.з G 01 В 21/08 Государственный комитет СССР 00 делам изобретений н открытий t 3) УДН531. 71 (088, 8) Дата...

947645