КОСЯЧКОВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ

  Союз Советских Социалистических Республик КСАН И Е К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 27.02.81 (21) 3254083/18-21 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) M. Кл. Н 01 J 49/32 Н 01 J 49/44 Гееударствеилмк иемитет СССР (53) УДК 621.384 (088.8) Опубликовано 07.09.82. Бюллетень №ЗЗ Дата опубликования описания 17.09.82 ло...

  СПОСОБ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ ТЕЛ, включаюпщй воздействие на объект пучком первичных ионов, разделе ние и последующую регистрацию вторичных ионов, отличающийс я тем, что, с целью повышения послойного разрешения без снижения концентрационной чувствительности или локальности анализа, воздействие на объект осуществляют пучком ионов I водорода (протонами...

  Изобретение относится к физическому приборостроению, в частности к ;устройствам для анализа ионов и электронов и может быть использовано при анализе поверхностных слоев материала . Цель изобрете:1ия - увеличение чувствительности и расширение аналитических возможностей. Пучок частиц направляется на поверхность исследуемого образца 3. Угол отбора анализируемых частиц относительно п...

  Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано при анализе эмиттированных поверхностью твердого тела частиц по направлению, энергии и массе в сверхвысоковакуумных установках . Цель - расширение эксплуатационных возможностей устройства путем увеличения диапазона углов исследования. Она достигается тем, что в устройстве для исследования поверхности твердо...

  Изобретение относится к области физических методов исследования твердых тел, а более конкретно к спектроскопии рассеяния медленных ионов, используемой для структурного, элементного, концентрационного и физико-химического анализа поверхности твердого тела. Цель изобретения - снижение степени нарушения анализируемой поверхности пучком первичных ионов без снижения чувствительности. Д...

  Изобретение относится к области анализа поверхности твердого тела методом спектроскопии рассеяния медленных ионов (СРМИ). Цель - повышение точности анализа атомной структуры поверхности. Измерение зависимостей интенсивности однократно упругорассеянных ионов от угла скольжения производят при двух фиксированных существенно отличающихся (не менее 20°) углах рассеяния и вычисляют...

  Изобретение относится к устройствам для точного дистанционного позиционирования образца и может быть использовано, например, в растровых туннельных микроскопах. Целью изобретения является расширение эксплуатационных возможностей позиционера образца за счет увеличения числа степеней свободы при сохранении простоты конструкции. Устройство содержит горизонтальное основание, преобразо...