PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ОВЧАРЕНКО ЕВГЕНИЙ НИКОЛАЕВИЧ

Изобретатель ОВЧАРЕНКО ЕВГЕНИЙ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения профиля концентрации примеси в полупроводниках

Способ измерения профиля концентрации примеси в полупроводниках

  ОПИСАНИЕ ИЗОВРЕтЕНИЯ ""-958987 Союз Советекнх Соцнапнстнческнх Республнк.9ф м щ г Ф, „ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (51)M Nn з . G 01 R 31/26, (22) Заявлено 220980 (21) .2983315/18-21 с присоединением заявки ¹Госуларстненный комитет СССР по аелам изобретений н открытий (23) Приоритет (53)- УДК621. 382, .2{088.8) Опубликовано 1509.82. Бюлл...

958987

Способ измерения параметров области полупроводникового слоя

Способ измерения параметров области полупроводникового слоя

  СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ОБЛАСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОЮГО СЛОЯ, включаквдий ограничение размеров контролируемой области замкнутой МДПструктурой , формирование внутри контролируемой области средств контактирования , подачу импульса напряжения обеднения на замкнутую МДП-структуру и ограничение времени измерения параметров в пределах длительности импульса напряжения обеднения, о тлйчаищ...

1068847