ЛЕВИНСОН ГЕННАДИЙ РУВИМОВИЧ
Изобретатель ЛЕВИНСОН ГЕННАДИЙ РУВИМОВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для автоматического измерения сдвига ахроматической полосы в интерферометрах Устройство для автоматического измерения сдвига ахроматической полосы в интерферометрах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c75f807be35a13db74f1e1c3050d4b1d.jpg)
Устройство для автоматического измерения сдвига ахроматической полосы в интерферометрах
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ („>972210 Союз Советских Социалистических Рестгублик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 13.04.81 (21) 3278247/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл." Ci 01 В 9/02 Гееударетееккме кемитет СССР Опубликовано 07.1!.82. Бюллетень №41 Дата опубликования описания 1?.11.82 (53) УДК 535.8...
972210![Устройство для определения периода полосовой доменной структуры в магнитных пленках Устройство для определения периода полосовой доменной структуры в магнитных пленках](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6dbb6b7c139dae0f94a849817d4661ff.jpg)
Устройство для определения периода полосовой доменной структуры в магнитных пленках
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических маг нитных доменах. Целью изобрете-- ния является расширение области применения устройства за счет увеличения диапазона значений измеренных периодов полосовых доменных структур . Устройство для определения периода полосовой доменной структуры в магнит...
1295348![Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света](https://img.patentdb.ru/i/200x200/15fc1eba734e4851eaeb0445bb46ba9c.jpg)
Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света
Изобретение относится к измерительной техни-ке и может быть использовано для измерения профиля и шероховатости поверхности, а также для определения толщины тонких пленок. Цель изобретения - повьппение точности измерений за счет исключения погрешностей , связанных с переходными процессами при автоподстройке и флуктуациями разности хода плеч интерфе- . рометра. Сущность способа зак...
1298542![Устройство для измерения геометрических параметров поверхности Устройство для измерения геометрических параметров поверхности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1b04010a0e4304106dd0cd33e7e9ccaa.jpg)
Устройство для измерения геометрических параметров поверхности
Изобретение относится к йзмери- . тельной технике. Целью изобретения является повьппение точности измерений за счет исключения влияния дрейфа интерферометра и переходных процессов автоподстройки на результаты измерений. Устройство для измерения геометрических параметров поверхности содержит интерферометр 1, источник 2 белого света, который с первым фотоприемником 10 и схемой обра...
1350498![Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e24bd95d5d0c47026214eb5ddc3a95ae.jpg)
Способ измерения геометрических параметров поверхности в интерференционном профилографе белого света
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - уменьшение времени и повышение точности измерений за счет формирования более точных оценок измеряемого параметра перед вычислением среднего. Способ заключается в формировании сигнала расстройки, пропорционального положению аэроматической полосы, изменении разности хода интерферирующих лучей в сторону умен...
1575070