КРУЧИНИНА НОННА ИОСИФОВНА
Изобретатель КРУЧИНИНА НОННА ИОСИФОВНА является автором следующих патентов:
![Устройство для контроля взаимного расположения осей отверстий Устройство для контроля взаимного расположения осей отверстий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/fc22afcc6e6c966fe14a7e17546012e8.jpg)
Устройство для контроля взаимного расположения осей отверстий
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-еу (22) Заявлено 20.05.81(21) 3292282/25-28 t53) М.Кд.з G 01 В 11/?7 с присоединением заявки N (23) Приоритет Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий Опубликовано 15.11.82. Бюллетень ¹ 42 Дата опубликования описания 15. 11.82 (53) У...
974119![Нивелир с самоустанавливающейся линией визирования Нивелир с самоустанавливающейся линией визирования](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3b542702ad7fac66889fb3e0ca42a467.jpg)
Нивелир с самоустанавливающейся линией визирования
1. НИВЕЛИР С САМОУСТАНАВЛИВАЮЩЕЙСЯ ЛИНИЕЙ ВИЗИРОВАНИЯ, со-. держащий размещенный в корпусе r.iemду объективом и сеткоП- нитей зеркальньш компенсатор, отличают и йс я тем, что, с целью обеспечения высокой точности измерений при широком диапаздне стабилизации линии визирования, зеркальный компенсатор образован двумя уголковыми зеркалами , независимо подвешенньлми на осях, перпендик...
1044974![Нивелир с самоустанавливающейся линией визирования Нивелир с самоустанавливающейся линией визирования](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6b526ed536fbf222a9d3dce9602c5f12.jpg)
Нивелир с самоустанавливающейся линией визирования
НИВЕЛИР С САМОУСТАНАВШВАЮЩЕЙСЯ ЛИНИЕЙ ВИЗИРОВАНИЯ, содержащий .зрительнуютрубу с объективом, уголковым Отражателем, сеткой нитей, установленной в главной плоскости объектива, компенсатором маятникового типа, имеющим отражательный опти чгский , расположеияь) в главной плоскости объектива между объективом и уголковым отражателем, отличающийся тем, что, с целью улучшения качества из...
1136014![Устройство для контроля диаметров отверстий Устройство для контроля диаметров отверстий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ab49ea23d6da28d0a7ddc80141e99433.jpg)
Устройство для контроля диаметров отверстий
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано в технологических процессах для настроечного или выборочного контроля диаметров деталей или для их сортировки по размерным группам. Цель изобретения - расширение диапазона измерений. Перед началом работы образцовую втулку 26, соответствующую контролируемому диаметру, устанавливают на устано...
1772614![Устройство для контроля взаимного расположения осей отверстий Устройство для контроля взаимного расположения осей отверстий](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9002965bfd2045d46c13a2e575e52657.jpg)
Устройство для контроля взаимного расположения осей отверстий
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и используется для контроля взаимного положения осей отверстий . Цель изобретения - повышение точноJ/ 10 сти и производительности контроля Визирную ось измерительной трубы 1 выставляют примерно по оси отверстий Последовательно фокусируют измерительную трубу 1 на марки 2 и 4 и измеряют координаты их изображений Контроль осуще...
1774163