Пякилля И.В.

 Изобретение относится к атомно-эмиссионному спектральному анализу. В способе возбуждают излучение образца в низкотемпературной плазме, осуществляют фотографическую регистрацию эмиссионного спектра образца, измеряют почернения основной линии элемента S и линии сравнения Sср и расчитывают содержание искомого элемента в пробе Сх по системе уравнений. Технический результат - повышение точност...