PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КОПЫЛОВ ВИКТОР ГРИГОРЬЕВИЧ

Изобретатель КОПЫЛОВ ВИКТОР ГРИГОРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Растровый электронный микроскоп-микроанализатор

Растровый электронный микроскоп-микроанализатор

  РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРО-СКОП- МИКР0АНАЛИЗАТОР , содержащий систему формированкя 9JieKTpoHHoro зонда. -i.OiaA5f ; :«fдтаг-гс. . тt:;: i; П(;:.дg 10 5. ;.v ;отклоняющую систему схему отображения информации, вклшчаюиило первый канал, содержащий детектор рентгеновскогю излучения , счётчик шлтульСов. и блок регист|рации, второй канал, содержащий детектор вторичнБК электронов и инй...

1019520

Устройство для стабилизации вакуума

Устройство для стабилизации вакуума

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ СТАБИЛИЗАЦИИ ВАКУУМА, содержащее по числу каналов последовательно соединеннее датчики давления и логические блоки, последовательно соединённые исполнительные блоки и исполнительные элементы, а также коммутатор, подключенный менаду выходами логических блоков и входгиш исполнительных блоков, о т л и ч а ю-щ е ее я тем, что, с целью повышения надежности и КПД устройст...

1083165

Устройство для управления током электромагнитной линзы

Устройство для управления током электромагнитной линзы

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК йи 4 H О! J 37> 302 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ 3нeveee упра5пение Вн упра ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21 ) 3849367> 24-2! (22) 31.01.85 (46) 07.08.88. Бк>л. ¹ 29 (71) Сумское прои (во ьственнос ооъелинение «Электрон» (72) В. И. Удальцов, В. Г. Копылов, Г. 1. Kkkсель и О. A. Бр...

1415270

Термомеханический толкатель для вакуумных приводов

Термомеханический толкатель для вакуумных приводов

  Изобретение относится к области машиностроения , в частности к приводам,работающим в условиях вакуума, и может быть использовано в вакуумных клапанах, вентилях-натекателях, а также в приводах) диафрагм масс-спектрографов и электронных микроскопов. Целью изобретения является упрощение конструкции. В термомеханическом толкателе, содержащем корпус 1 с выступами 12, 13, образующими щ...

1706959

Приспособление для исследования образцов в электронном микроскопе

Приспособление для исследования образцов в электронном микроскопе

  Изобретение относится к испытательной технике, а именно к средствам исследования образцов материалов под нагрузкой в электронном микроскопе Цель изобретения - упрощение конструкции. Приспособление содержит вакуумируемый корпус 1 с основанием 2, нагружатель из двух соосных С-образных элементов 3 и 4, изготовленных из материалов с термомеханической памятью , и закрепленные на полка...

1718010