ДУРНИН ИВАН ДМИТРИЕВИЧ
Изобретатель ДУРНИН ИВАН ДМИТРИЕВИЧ является автором следующих патентов:
Тестовая ячейка для контроля качества мдп-бис
) ТЕСТОВАЯ ЯЧЕЙКА ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА , содержащая расположенные по периферии кристалла группы транзисторов , объединенных в два симметричных плеча, отличающаяся тем,что, с целью повышения чувствительности, каждое плечо содержит три полевых транзистора, причем истоки первых транзисторов обоих пЛеч электрически соединены с одним выводом ячейки, затворы этих транзисторов соединен...
1022082