PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ТИХАНОВИЧ СЕРГЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ

Изобретатель ТИХАНОВИЧ СЕРГЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для контроля толщины тонких пленок

Устройство для контроля толщины тонких пленок

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК „„SU„„, 1037065 3«59: с 01 В 11/06 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕ:Г СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ И ABTOPGH0MV СВИДЕТЕЛЬСТВУ . (21) 3441770/25" 28 (22) 20. 05. 82 :(46) 23.08.83. Бел. N 31. (72) Н.H.Ïóíüêo и.С.А.Тиханович (71) Институт прикладной физики АН Белорусской ССР (53) 531.715.27(088.8) (56) 1. Davarp...

1037065

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ВЕЩЕСТВ , содержащее генератор электромагнитного излучения, к выходу которого подсоединен поляризатор, а также последовательно соединенные анализатор, приемник излучения и регистратор , отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, на оптической оси между поляризатором и анализатором установлены два делителя лу...

1045167

Способ частотно-модуляционной эллипсометрии

Способ частотно-модуляционной эллипсометрии

  СПОСОБ ЧАСТОТНО-МОДУЛЯЦИОННОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ, при осуществлении которого направляют электромагнитное излучение с заданным состоянием поляризации на исследуемый образец, провзaи 4oдeйcтвoвaвшee с исследуемым образцом излучение разделяют на два пучка ортогональными плоскостями поляризаций и регистрируют изменение состояния поляризации провзаимодействовавшего с исследуемым образцом и...

1060955

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов,покрытых защитной диэлектрической пленкой

Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов,покрытых защитной диэлектрической пленкой

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я) Э 01 27/26 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР пO делАм изОБРетений и ОткРытий К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3514831/18-21 (22) 26.11.82 (46) 07.02.84. Вюл. Р 5 (72) В.А.Ьонев, Н.В.Любецкий, П.H.Пунько и С.A.Tèõàíîâè÷ (71) Институт прикладной физики AH Белорусской ССР (53) 621.317.337 (088,8) (56) 1.Известия вузо...

1071973

Устройство для контроля толщины пленок

Устройство для контроля толщины пленок

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК, содержащее излучаю1ЦИЙ тракт, состоящий из последовательно соединенных источника СВЧ излучения , поляризатора, вращателя плоскости поляризации и излучакяцей антенны, первый приемный тракт, сос .тоящий из последовательно соединенных первой приемной антенны, делителя электромагнитной волны на две ортогонально-поляризованные составлякяцие , к...

1116301


Измерительная ячейка для исследования диэлектрических параметров жидкостей

Измерительная ячейка для исследования диэлектрических параметров жидкостей

  ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ. ПАРАМЕТРОВ ЖИДКОСТЕЙ, содержащая кювету, установленную между входным и выходным окнами, отличающаяс я тем, что, с целью повышения то 1 ности измерений, она дополнительно содержит трехгранную диэлектрическую призму нарушенного полного внутренне i-o отражения, на боковых гранях которой расположены входное и выходное окна, выпол...

1126849

Способ и устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ

Способ и устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ

  1. Способ измерения диэлектри-. ческой проницаемости веществ, заключающийся в том, что исследуемое вещество облучают поляризованным электромагнитным излучением, разделяют провзаимодействовавшее излучение на ортогональные составляющие и измеряют эллипсометрические параметры, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности измерений, облучают исследуемый материал двумя поляризова...

1167535

Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство для его осуществления

Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство для его осуществления

  1. Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков , заключающийся в том, что исследуемый листовой диэлектрик облучают линейно поляризованной электромагнитной волной, разделяют отраженную волну, на ортогональные составляющие и определяют ее эллиптичность, отличающимися тем, что, с целью повыщения точности, при измерении листовых диэлектриков с малым З1начен...

1176266

Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов

Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов

  Изобретение,относится , к измерительной технике и может быть использовано для измерения диэлектрической проницаемости веществ. Цель изобретения - повышение точности измерений - достигается исключением нестабильности мощности излучения генератора к необходимости регулировки поляризационных элементов. Устройство содержит генератор излучения 1, управляемый аттенюатор 2, поляризацион...

1226347

Способ определения диэлектрической проницаемости веществ

Способ определения диэлектрической проницаемости веществ

  Изобретение относится к измерительной технике. Повышается точность при исследовании веществ с малым значением диэл.проницаемости. Устр-во, реализующее способ, работает следующим образом. При подаче питающего напряжения от блока 2 на СВЧ-источник 1 излучения последний излучает амплитудно-модулированные колебания, к-рые преобразуются в волноводно-лучевом переходе (ВЛП) 3 из волны п...

1244602


Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах

Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СООИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (м 4 G 01 И 22/02 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ Н ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3911695/24-09 (22) 11.06.85 (46) 15.10.86.Бюл. У 38 (71) Институт прикладной физики АН БССР (72) В.А.Конев, Н.В.Любецкий, В.Н.Цвирко и С.А.Тиханович {53) 621.317 ° 39(088.8) (56) Неразрушающие физичес...

1264052

Свч-датчик для измерения малых значений диэлектрической проницаемости листовых материалов

Свч-датчик для измерения малых значений диэлектрической проницаемости листовых материалов

  СОК)3 СОНЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н АBTOPCHOIVIY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3745737/24-09 (22) 28.05.84 (46) 23,1!.86.Бюл. N 43 (71) Институт прикладной физики AH БССР (72) В.А.Конев и С.А.Тиханович (53) 621 ° 317.335.3 (088.8) (56) Повьппение надежности авиационной техники средствами нера...

1272279

Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков

Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков

  Изобретение относится к технике {измерений на СЕЧ и обеспечивает повышение точности измерений. Способ заключается в том, что контролируемый материал (КМ) 9 облучают электромагнитной волной, линейно поляризо/Г ванной и изменяющейся по частоте. Волну формируют с помощью свип-генератора 2, волноводно-лучевого перехода 3 и блока 1 питания. При приеме с помощью вращателя 4 плоскости п...

1296963

Модулятор поляризации

Модулятор поляризации

  Изобретение относится к технике КВЧ и может использоваться в .метрологических устр-вах и системах. Цель изобретения - повышение точности и глубины модуляции. Модулятор поляризации состоит из диэл. элемента в виде полой призмы (ПП) 1, входного и выходного лучеводов 2, 3, соединенных с боковыми гранями ПП 1, соленоида 4, стакана 5, заполненного магнитной жидкостью 6, и .металлическ...

1298812

Ячейка для измерения диэлектрической проницаемости материалов

Ячейка для измерения диэлектрической проницаемости материалов

  Изобретение обеспечивает повышение точности измерений диэл. проницаемости анизотропных диэлектриков. Ячейка содержит линзу, вьшолненную из диэл. материала в форме правильной четырехугольной пирамиды (ПЧП) 1, на смежных боковых поверхностях которой расположены диэл.стаканы (ДС) 2, 3 для подключения стандартных лучеводов. Исследуемый образец (ИО) помещается на основании ПЧП 1. Чере...

1322194


Способ контроля анизотропии материалов с малой диэлектрической проницаемостью и устройство для его осуществления

Способ контроля анизотропии материалов с малой диэлектрической проницаемостью и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к технике измерений. Целью изобретения является повьпяение чувствительности и точности контроля. Сущность изобретения заключается в формировании двух электромагнитных волн круговой поляризации , одна из которых является измерительной , а другая - опорной. Выделяют из опорной из прошедшей через контролируемый ма териал измерительной электромагнитной волн с ча...

1427262

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов

Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерения. Устройство содержит источник 1 излучения, волноводно-лучевые переходы 2 и 3, уголковый СВЧ-переход 4, образованный двумя отрезками линии передачи и отражателем, в качестве которого используется исследуемое диэлектрическое покрытие 12 металла, СВЧ-детектор 5 излучения, селективный усилит...

1506387

Способ определения диэлектрической проницаемости материалов

Способ определения диэлектрической проницаемости материалов

  Изобретение относится к измерению электрических параметров материалов, в частности к измерению диэлектричесой проницаемости. Целью изобретения является повышение точности. Способ заключается в том, что плоскую поверхность диэлектрического материала облучают СВЧ-излучением переменной частоты, поляризованным в плоскости падения, с гаусовым распределением мощности по сечению пучка, р...

1550436

Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков

Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков

  Изобретение относится к радиоизмерительной технике. Цель изобретения - повышение точности. Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков заключается в облучении исследуемого листового диэлектрика электромагнитный волной с круговой поляризацией и с изменяющейся частотой под углом φ к его поверхности, приеме прошедшей через исследуемый листовой диэлектри...

1569748

Эллипсометрический способ измерения расстояния или плоскостности

Эллипсометрический способ измерения расстояния или плоскостности

  Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет минимизации паразитных отражений от контролируемой поверхности и повышения чувствительности фазового сдвига ортогонально поляризованных составляющих СВЧ-волны к величине контролируемого параметра. СВЧ- колебания переменной частоты линейно поляризованные под углом 45&...

1657952


Способ измерения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков

Способ измерения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерений за счет исключения влияния на результат измерений толщины контролируемого диэлектрика. Способ измерения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков заключается в том, что контролируемый диэлектрик 4 облучают под углом линейно-поляризованной волной СВЧ, генерируемой генератором 1...

1672383

Способ измерения диэлектрической проницаемости жидкостей

Способ измерения диэлектрической проницаемости жидкостей

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения диэлектрических проницаемостей жидкостей с малыми потерями. Целью изобретения является повышение точности. Способ реализуется путем облучения исследуемой жидкости электромагнитной волной через диэлектрическую призму 2 нарушенного полного внутреннего отражения, причем плоскость поляризации электр...

1681279

Способ неразрушающего контроля механической анизотропии диэлектрических материалов

Способ неразрушающего контроля механической анизотропии диэлектрических материалов

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля диэлектрических материалов в радиотехнической и авиационной промышленности. Цель изобретения - повышение точности контроля анизотропии диэлектрических материалов . Сущность изобретения заключается в поочередном облучении диэлектрического материала под углом 45° дв...

1689815

Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов

Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле диэлектрической проницаемости материалов. Целью изобретения является повышение точности измерений и обеспечение измерения диэлектриков , толщиной (3-5X. Способ осуществляется путем возбуждения а границе полупроводниковой пленки - исследуемый материал электрогнигн г волны - поверхностного плазмона...

1700496

Способ контроля параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей

Способ контроля параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в авиационной промышленности для определения количества связующего и направления углеродных нитей однослойных композиционных материалов . Цель изобретения - повышение точности и обеспечение контроля направления углеродных нитей Изобретение позволяет с высокой точностью контролировать параметры компо...

1742687