ТИХАНОВИЧ СЕРГЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель ТИХАНОВИЧ СЕРГЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для контроля толщины тонких пленок Устройство для контроля толщины тонких пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7827a450361678ff70f978c09c244bdc.jpg)
Устройство для контроля толщины тонких пленок
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК „„SU„„, 1037065 3«59: с 01 В 11/06 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕ:Г СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ И ABTOPGH0MV СВИДЕТЕЛЬСТВУ . (21) 3441770/25" 28 (22) 20. 05. 82 :(46) 23.08.83. Бел. N 31. (72) Н.H.Ïóíüêo и.С.А.Тиханович (71) Институт прикладной физики АН Белорусской ССР (53) 531.715.27(088.8) (56) 1. Davarp...
1037065![Устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ Устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ](https://img.patentdb.ru/i/200x200/721075d6772798fbf4956965f5505d3d.jpg)
Устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ВЕЩЕСТВ , содержащее генератор электромагнитного излучения, к выходу которого подсоединен поляризатор, а также последовательно соединенные анализатор, приемник излучения и регистратор , отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, на оптической оси между поляризатором и анализатором установлены два делителя лу...
1045167![Способ частотно-модуляционной эллипсометрии Способ частотно-модуляционной эллипсометрии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/23c70194e9c1599c20f80ff9562e9b7a.jpg)
Способ частотно-модуляционной эллипсометрии
СПОСОБ ЧАСТОТНО-МОДУЛЯЦИОННОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ, при осуществлении которого направляют электромагнитное излучение с заданным состоянием поляризации на исследуемый образец, провзaи 4oдeйcтвoвaвшee с исследуемым образцом излучение разделяют на два пучка ортогональными плоскостями поляризаций и регистрируют изменение состояния поляризации провзаимодействовавшего с исследуемым образцом и...
1060955![Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов,покрытых защитной диэлектрической пленкой Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов,покрытых защитной диэлектрической пленкой](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4675df1decd71791ba32ccbdc1c896d4.jpg)
Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов,покрытых защитной диэлектрической пленкой
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я) Э 01 27/26 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР пO делАм изОБРетений и ОткРытий К ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3514831/18-21 (22) 26.11.82 (46) 07.02.84. Вюл. Р 5 (72) В.А.Ьонев, Н.В.Любецкий, П.H.Пунько и С.A.Tèõàíîâè÷ (71) Институт прикладной физики AH Белорусской ССР (53) 621.317.337 (088,8) (56) 1.Известия вузо...
1071973![Устройство для контроля толщины пленок Устройство для контроля толщины пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e28dd9096c2ca559ae2d49f29246cf29.jpg)
Устройство для контроля толщины пленок
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК, содержащее излучаю1ЦИЙ тракт, состоящий из последовательно соединенных источника СВЧ излучения , поляризатора, вращателя плоскости поляризации и излучакяцей антенны, первый приемный тракт, сос .тоящий из последовательно соединенных первой приемной антенны, делителя электромагнитной волны на две ортогонально-поляризованные составлякяцие , к...
1116301![Измерительная ячейка для исследования диэлектрических параметров жидкостей Измерительная ячейка для исследования диэлектрических параметров жидкостей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/829393fe8b1a1f2f3c18995acb4a01f1.jpg)
Измерительная ячейка для исследования диэлектрических параметров жидкостей
ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ. ПАРАМЕТРОВ ЖИДКОСТЕЙ, содержащая кювету, установленную между входным и выходным окнами, отличающаяс я тем, что, с целью повышения то 1 ности измерений, она дополнительно содержит трехгранную диэлектрическую призму нарушенного полного внутренне i-o отражения, на боковых гранях которой расположены входное и выходное окна, выпол...
1126849![Способ и устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ Способ и устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9a49d5429a1819e355f25068f4e8fac7.jpg)
Способ и устройство для измерения диэлектрической проницаемости веществ
1. Способ измерения диэлектри-. ческой проницаемости веществ, заключающийся в том, что исследуемое вещество облучают поляризованным электромагнитным излучением, разделяют провзаимодействовавшее излучение на ортогональные составляющие и измеряют эллипсометрические параметры, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности измерений, облучают исследуемый материал двумя поляризова...
1167535![Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство для его осуществления Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f74e1d46055af99d59c08855a801e95d.jpg)
Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков и устройство для его осуществления
1. Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков , заключающийся в том, что исследуемый листовой диэлектрик облучают линейно поляризованной электромагнитной волной, разделяют отраженную волну, на ортогональные составляющие и определяют ее эллиптичность, отличающимися тем, что, с целью повыщения точности, при измерении листовых диэлектриков с малым З1начен...
1176266![Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/411d21c8d0ca80758955a7c8f49da80f.jpg)
Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов
Изобретение,относится , к измерительной технике и может быть использовано для измерения диэлектрической проницаемости веществ. Цель изобретения - повышение точности измерений - достигается исключением нестабильности мощности излучения генератора к необходимости регулировки поляризационных элементов. Устройство содержит генератор излучения 1, управляемый аттенюатор 2, поляризацион...
1226347![Способ определения диэлектрической проницаемости веществ Способ определения диэлектрической проницаемости веществ](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9d08638059c94a1bd0734d9f568ef03c.jpg)
Способ определения диэлектрической проницаемости веществ
Изобретение относится к измерительной технике. Повышается точность при исследовании веществ с малым значением диэл.проницаемости. Устр-во, реализующее способ, работает следующим образом. При подаче питающего напряжения от блока 2 на СВЧ-источник 1 излучения последний излучает амплитудно-модулированные колебания, к-рые преобразуются в волноводно-лучевом переходе (ВЛП) 3 из волны п...
1244602![Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5890f6faffabeab5ac200ec98736f483.jpg)
Способ определения глубины залегания расслоений в диэлектрических материалах
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СООИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (м 4 G 01 И 22/02 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ Н ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3911695/24-09 (22) 11.06.85 (46) 15.10.86.Бюл. У 38 (71) Институт прикладной физики АН БССР (72) В.А.Конев, Н.В.Любецкий, В.Н.Цвирко и С.А.Тиханович {53) 621.317 ° 39(088.8) (56) Неразрушающие физичес...
1264052![Свч-датчик для измерения малых значений диэлектрической проницаемости листовых материалов Свч-датчик для измерения малых значений диэлектрической проницаемости листовых материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/202beabeac7b9dbcd05a941d7903a00c.jpg)
Свч-датчик для измерения малых значений диэлектрической проницаемости листовых материалов
СОК)3 СОНЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н АBTOPCHOIVIY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3745737/24-09 (22) 28.05.84 (46) 23,1!.86.Бюл. N 43 (71) Институт прикладной физики AH БССР (72) В.А.Конев и С.А.Тиханович (53) 621 ° 317.335.3 (088.8) (56) Повьппение надежности авиационной техники средствами нера...
1272279![Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0b7cbc68c59defc83ff7f4ce6a3871c8.jpg)
Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков
Изобретение относится к технике {измерений на СЕЧ и обеспечивает повышение точности измерений. Способ заключается в том, что контролируемый материал (КМ) 9 облучают электромагнитной волной, линейно поляризо/Г ванной и изменяющейся по частоте. Волну формируют с помощью свип-генератора 2, волноводно-лучевого перехода 3 и блока 1 питания. При приеме с помощью вращателя 4 плоскости п...
1296963![Модулятор поляризации Модулятор поляризации](https://img.patentdb.ru/i/200x200/612e1995c7dba36acb85ac07ab1b81c7.jpg)
Модулятор поляризации
Изобретение относится к технике КВЧ и может использоваться в .метрологических устр-вах и системах. Цель изобретения - повышение точности и глубины модуляции. Модулятор поляризации состоит из диэл. элемента в виде полой призмы (ПП) 1, входного и выходного лучеводов 2, 3, соединенных с боковыми гранями ПП 1, соленоида 4, стакана 5, заполненного магнитной жидкостью 6, и .металлическ...
1298812![Ячейка для измерения диэлектрической проницаемости материалов Ячейка для измерения диэлектрической проницаемости материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/253936b44201b415a5230e06135de223.jpg)
Ячейка для измерения диэлектрической проницаемости материалов
Изобретение обеспечивает повышение точности измерений диэл. проницаемости анизотропных диэлектриков. Ячейка содержит линзу, вьшолненную из диэл. материала в форме правильной четырехугольной пирамиды (ПЧП) 1, на смежных боковых поверхностях которой расположены диэл.стаканы (ДС) 2, 3 для подключения стандартных лучеводов. Исследуемый образец (ИО) помещается на основании ПЧП 1. Чере...
1322194![Способ контроля анизотропии материалов с малой диэлектрической проницаемостью и устройство для его осуществления Способ контроля анизотропии материалов с малой диэлектрической проницаемостью и устройство для его осуществления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d8a0ec37d0df96dacebb731555cf32a8.jpg)
Способ контроля анизотропии материалов с малой диэлектрической проницаемостью и устройство для его осуществления
Изобретение относится к технике измерений. Целью изобретения является повьпяение чувствительности и точности контроля. Сущность изобретения заключается в формировании двух электромагнитных волн круговой поляризации , одна из которых является измерительной , а другая - опорной. Выделяют из опорной из прошедшей через контролируемый ма териал измерительной электромагнитной волн с ча...
1427262![Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/fad48229d66a9656069fb85bcbb9754d.jpg)
Устройство для измерения толщины диэлектрических покрытий металлов
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерения. Устройство содержит источник 1 излучения, волноводно-лучевые переходы 2 и 3, уголковый СВЧ-переход 4, образованный двумя отрезками линии передачи и отражателем, в качестве которого используется исследуемое диэлектрическое покрытие 12 металла, СВЧ-детектор 5 излучения, селективный усилит...
1506387![Способ определения диэлектрической проницаемости материалов Способ определения диэлектрической проницаемости материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e1f3b0427a26485198008b44bd477308.jpg)
Способ определения диэлектрической проницаемости материалов
Изобретение относится к измерению электрических параметров материалов, в частности к измерению диэлектричесой проницаемости. Целью изобретения является повышение точности. Способ заключается в том, что плоскую поверхность диэлектрического материала облучают СВЧ-излучением переменной частоты, поляризованным в плоскости падения, с гаусовым распределением мощности по сечению пучка, р...
1550436![Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков](https://img.patentdb.ru/i/200x200/584ee399f3f053eff5569f86a10d0ecb.jpg)
Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков
Изобретение относится к радиоизмерительной технике. Цель изобретения - повышение точности. Способ определения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков заключается в облучении исследуемого листового диэлектрика электромагнитный волной с круговой поляризацией и с изменяющейся частотой под углом φ к его поверхности, приеме прошедшей через исследуемый листовой диэлектри...
1569748![Эллипсометрический способ измерения расстояния или плоскостности Эллипсометрический способ измерения расстояния или плоскостности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/93b89946c9d51ac562102755230b3f95.jpg)
Эллипсометрический способ измерения расстояния или плоскостности
Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет минимизации паразитных отражений от контролируемой поверхности и повышения чувствительности фазового сдвига ортогонально поляризованных составляющих СВЧ-волны к величине контролируемого параметра. СВЧ- колебания переменной частоты линейно поляризованные под углом 45&...
1657952![Способ измерения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков Способ измерения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2ce557c1fdaea9e1961c8a50d5693c49.jpg)
Способ измерения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерений за счет исключения влияния на результат измерений толщины контролируемого диэлектрика. Способ измерения диэлектрической проницаемости листовых диэлектриков заключается в том, что контролируемый диэлектрик 4 облучают под углом линейно-поляризованной волной СВЧ, генерируемой генератором 1...
1672383![Способ измерения диэлектрической проницаемости жидкостей Способ измерения диэлектрической проницаемости жидкостей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/187573eaecd5f9033aec4d6c2e73ff20.jpg)
Способ измерения диэлектрической проницаемости жидкостей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения диэлектрических проницаемостей жидкостей с малыми потерями. Целью изобретения является повышение точности. Способ реализуется путем облучения исследуемой жидкости электромагнитной волной через диэлектрическую призму 2 нарушенного полного внутреннего отражения, причем плоскость поляризации электр...
1681279![Способ неразрушающего контроля механической анизотропии диэлектрических материалов Способ неразрушающего контроля механической анизотропии диэлектрических материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f1abd298fb5fb6a1e347e4c07049832d.jpg)
Способ неразрушающего контроля механической анизотропии диэлектрических материалов
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля диэлектрических материалов в радиотехнической и авиационной промышленности. Цель изобретения - повышение точности контроля анизотропии диэлектрических материалов . Сущность изобретения заключается в поочередном облучении диэлектрического материала под углом 45° дв...
1689815![Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/44e01b03ef7509ff78852588722fa1e9.jpg)
Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле диэлектрической проницаемости материалов. Целью изобретения является повышение точности измерений и обеспечение измерения диэлектриков , толщиной (3-5X. Способ осуществляется путем возбуждения а границе полупроводниковой пленки - исследуемый материал электрогнигн г волны - поверхностного плазмона...
1700496![Способ контроля параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей Способ контроля параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c3a57c8736efa5274fd4f881249de9bb.jpg)
Способ контроля параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в авиационной промышленности для определения количества связующего и направления углеродных нитей однослойных композиционных материалов . Цель изобретения - повышение точности и обеспечение контроля направления углеродных нитей Изобретение позволяет с высокой точностью контролировать параметры компо...
1742687