PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЛЕВЧЕНКО ВЛАДИМИР МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель ЛЕВЧЕНКО ВЛАДИМИР МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения качества волок

Способ определения качества волок

  СОЮЗ СОИЕТСНИФХ NUN РЕСПУБЛИН 093 (l1), д(д) В 21 С 3/18 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР re ДЕРАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) 6088 78, (21) 3452480/22-.02 (22) 14.06.82 (46) 07.1.0.83. Бмп. l4 37 ((72) Е Н. Ларин, Л.А. Поэдняков, С.Hi Старчикин и В.M. Левченко (7i) Спепиапьное проектно-конструкторское бюро по микропроводам проиэ...

1045978

Матричный накопитель

Матричный накопитель

  Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники, автоматики и электроники . Целью изобретения является повышение информационной емкости накопителя. Поставленная цель достигается тем, что в матричном накопителе катоды тиристоров совмещены с разрядными шинами, вьтолненными в виде скрытого полупроводникового n -слоя, р...

1403096

Способ определения радиуса изгиба атомных плоскостей монокристаллических пластин

Способ определения радиуса изгиба атомных плоскостей монокристаллических пластин

  Использование: анализ кристаллов, контроль микродеформаций полупроводниковых кристаллов. Сущность изобретения: перед исследуемым образцом устанавливают эталон-монокристаллическую пластину материала образца, в которой отсутствует изгиб атомных плоскостей. Рентгеновское излучение направляют одновременно на образец и эталон. Измеряют разницу угловых положений пиков отражений образца...

1744611