Лаптенок В.Д.

 Устройство для слежения за стыком при электронно-лучевой сварке, содержащее электронно-лучевую установку с отклоняющей системой, связанной с выходом сумматора, первый вход которого связан с задатчиком тока, запоминающее устройство, интегратор, датчик перемещения свариваемых деталей, генератор сканирования, индикатор положения стыка, блок управления и датчик вторичных электронов через изби...

 Устройство для слежения за стыком сварного соединения, содержащее электронно-лучевую установку, отклоняющую систему, блок сканирования, коллимированный датчик рентгеновского излучения, ориентированный на канал проплавления через стык соединения, последовательно соединенные избирательный усилитель третьей гармоники частоты сканирования луча, демодулятор, интегратор и сумматор, подключенный...

 Изобретение может быть использовано в полупроводниковом производстве для получения монокристаллических слитков германия. Сущность изобретения: устройство (фиг. 1) представляет собой микропроцессорную систему управления по выращиванию монокристаллических слитков германия по методу "Чохральского", на базе микроЭВМ 7, под управлением которой (в камере 12) производится выращивание монокристал...