PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ГОРЛОВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ

Изобретатель ГОРЛОВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:

Аппарат для выращивания микроорганизмов

Аппарат для выращивания микроорганизмов

  АППАРАТ ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИ531 МИКРООРГАНИЗМОВ, содержащий вертикальные емкости, разделенные по высоте на секции, снабженные аэраторами , патрубками для подвода питательной среды и отвода отработанного воздуха, отличающийся тем, что, с целью повышения удельной производительности и ускорения процесса выращивания, секции одной вертикальной емкости сообщены перепускными трубами с секциям...

1049535

Фотоэлектрический интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей

Фотоэлектрический интерферометр для контроля формы поверхности оптических деталей

  ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПО- ВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ, содержащий лазерный источник света, распО7(оженные последовательно по ходу его лучей телескопическую систему , первый светоделитель выполненный в виде плоскопараллельной , пластины, и объектив, расположенные последовательно в обратном ходе лучей за первым светоделителем второй светоделитель, узел...

1062519

Устройство для очистки суспензий от песка и механических примесей

Устройство для очистки суспензий от песка и механических примесей

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОЧИСТКИ СУСПЕНЗИЙ ОТ ПЕСКА И МЕХАНИЧЕСКИХ :ПРИМЕСЕЙ, содержащее питающий коллектор , соединенные с ним гидроциклоны ;со сливными И пеоковыми патрубками, :камеру сбора осветленной жидкости и песковую камеру, соединенные с соответствующими патрубками гидроциклонов , осевую трубу, посредством которой песковая камера соединена с камерой сбора осветленной жидкости, :фил...

1142173

Способ контроля формы поверхности оптических деталей

Способ контроля формы поверхности оптических деталей

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в фотоэлектрических интерферометрах при автоматизированном контроле формы поверхности оптических деталей . Целью изобретения является повьшение точности контроля. Пучок света направляют на контролируемую поверхность 16. Отраженный пучок света интерферирует в интерферометре 1 с , опорным пучком, который измеря...

1231408