Отрошенко Ю.Н.

 Способ относится к неразрушающему контролю качества материалов и изделий. Способ может быть использован для измерения толщины немагнитных покрытий с компенсацией влияния зазора между вихретоковым преобразователем и поверхностью изделия или для измерения толщины диэлектрических покрытий независимо от вариации электромагнитных свойств основы. Перед измерением амплитуды выходного сигнала вих...