PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ХРЫЧЕВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ

Изобретатель ХРЫЧЕВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения электрофизических параметров слитков полупроводниковых материалов

Устройство для измерения электрофизических параметров слитков полупроводниковых материалов

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЁНИЯГ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ СЛИТЮЭВ :ЯЕ /г ИОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИАТЕРЦАЛОВ, содвржащее корпус, зондовую головку, механизм перемещения эондовой головки и механизм фиксации корпуса относительно слитка, отличающевс я тем, что, с целью улучшения эксплуатационных возможностей и повышения точности измерения, механизм фиксации корпуса относительно слитка выполнен...

1051624

Датчик для измерения удельного сопротивления полупроводниковых стержней

Датчик для измерения удельного сопротивления полупроводниковых стержней

  ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬ-. НОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТЕРЖНЕЙ, содержащий прямоугольный волновод с соосными отверстиями в широких стенках, над которыми размещены четвертьволновые короткозамкнутые отрезки коаксиальной линии с полыми центральными проводниками для введения исследуемого полупроводникового стержня, отличаю щийс я тем, что, с целью расширения диапазона изм...

1112265