ХРЫЧЕВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ
Изобретатель ХРЫЧЕВ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:
Устройство для измерения электрофизических параметров слитков полупроводниковых материалов
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЁНИЯГ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ СЛИТЮЭВ :ЯЕ /г ИОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИАТЕРЦАЛОВ, содвржащее корпус, зондовую головку, механизм перемещения эондовой головки и механизм фиксации корпуса относительно слитка, отличающевс я тем, что, с целью улучшения эксплуатационных возможностей и повышения точности измерения, механизм фиксации корпуса относительно слитка выполнен...
1051624Датчик для измерения удельного сопротивления полупроводниковых стержней
ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬ-. НОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТЕРЖНЕЙ, содержащий прямоугольный волновод с соосными отверстиями в широких стенках, над которыми размещены четвертьволновые короткозамкнутые отрезки коаксиальной линии с полыми центральными проводниками для введения исследуемого полупроводникового стержня, отличаю щийс я тем, что, с целью расширения диапазона изм...
1112265