ИВАНОВСКИЙ ВЛАДИМИР ВАЛЕРЬЕВИЧ
Изобретатель ИВАНОВСКИЙ ВЛАДИМИР ВАЛЕРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для измерения показателя преломления прозрачных сред и его флуктуаций Устройство для измерения показателя преломления прозрачных сред и его флуктуаций](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a0fbb0efb17b46bd9d4e4199326d4b30.jpg)
Устройство для измерения показателя преломления прозрачных сред и его флуктуаций
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ СРЕД И ЕГО ФЛУКТУАЦИИ, содержащее размещенные в герметичном корпусе с иллюминаторами источник излучения и расположенные вдоль оптической оси устройства по ходу излучения коллиматор , фокусирующий объектив, диафрагма и фотоприемник, соединенный через блок обработки с регистратором, отличающееся тем, что, с целью повышения...
1054749![Устройство для измерения показателя поглощения излучения прозрачной средой Устройство для измерения показателя поглощения излучения прозрачной средой](https://img.patentdb.ru/i/200x200/528bb4bce914049c4d9fcafefba5e821.jpg)
Устройство для измерения показателя поглощения излучения прозрачной средой
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПОГЛОЩЕНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ ПРОЗРАЧНОЙ СРЕДОЙ, содержащее измерительный канал, включающий источник излучения, :расположенные вдоль оптической оси по ходу излучения конденсор, полевую диафрагму, коллиматор с апертурной диафрагмой, модулятор с приводом, отклоняющее зеркало, сменные цилиндрические измерительную кювету и кювету сравнения, каждая из которы...
1122897![Способ градуировки измерителя спектральной освещенности по абсолютной чувствительности Способ градуировки измерителя спектральной освещенности по абсолютной чувствительности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4706672897d44372e8f3a4696fccfcdd.jpg)
Способ градуировки измерителя спектральной освещенности по абсолютной чувствительности
Способ градуировки измерителя спектральной освещенности по абсолютной чувствительности относится к области энергетической фотометрии и может найти применение при измерении чувствительности фотометрических приборов. С целью повышения точности градуировки измерения проводят на дополнительно вьтолненном в осветителе, выполненном в виде интегрирующей сферы, отверстии, после чего опре...
1257412