ХАЛИТОВ ЗУФАР ЯХЬИЧ
Изобретатель ХАЛИТОВ ЗУФАР ЯХЬИЧ является автором следующих патентов:
Способ рентгеновского дифрактометрического анализа поликристаллических объектов с аксиальной текстурой
СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОГО ДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКОГО АН-АЛИЗА ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ С АКСИАЛЬНОЙ ТЕКСТУРОЙ, включающий установку плоского образца в держателе гениометра осью текстуры перпендикулярно к гониометрической оси, облучение образца пучком рентгеновских лучей, регистрацию дифрагированного излучения детектором, синхронизованное вращение детектора и держателя образца относител...
1062579