PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ХАЛИТОВ ЗУФАР ЯХЬИЧ

Изобретатель ХАЛИТОВ ЗУФАР ЯХЬИЧ является автором следующих патентов:

Способ рентгеновского дифрактометрического анализа поликристаллических объектов с аксиальной текстурой

Способ рентгеновского дифрактометрического анализа поликристаллических объектов с аксиальной текстурой

  СПОСОБ РЕНТГЕНОВСКОГО ДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКОГО АН-АЛИЗА ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ С АКСИАЛЬНОЙ ТЕКСТУРОЙ, включающий установку плоского образца в держателе гениометра осью текстуры перпендикулярно к гониометрической оси, облучение образца пучком рентгеновских лучей, регистрацию дифрагированного излучения детектором, синхронизованное вращение детектора и держателя образца относител...

1062579