PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Чепурной В.А.

Изобретатель Чепурной В.А. является автором следующих патентов:

Способ изготовления лазерной среды для активных элементов и пассивных затворов

Способ изготовления лазерной среды для активных элементов и пассивных затворов

 (19)SU(11)1064835(13)A1(51)  МПК 6    H01S3/16(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 27.12.2012 - прекратил действиеПошлина: (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЛАЗЕРНОЙ СРЕДЫ ДЛЯ АКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ И ПАССИВНЫХ ЗАТВОРОВ Изобретение относится к области квантовой электроники, к способам изготовления сред для лазерных элементов и может быть...

1064835

Способ изготовления материала для активных элементов и пассивных затворов лазеров

Способ изготовления материала для активных элементов и пассивных затворов лазеров

 (19)SU(11)1102458(13)A1(51)  МПК 6    H01S3/16(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 10.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МАТЕРИАЛА ДЛЯ АКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ И ПАССИВНЫХ ЗАТВОРОВ ЛАЗЕРОВ Изобретение относится к квантовой электронике, а именно к технологии изготовления оптических элементов, служащих для...

1102458

Способ изготовления активного элемента лазера на основе кристалла фторида лития с центрами окраски

Способ изготовления активного элемента лазера на основе кристалла фторида лития с центрами окраски

 (19)SU(11)1152475(13)A1(51)  МПК 6    H01S3/16(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 10.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ АКТИВНОГО ЭЛЕМЕНТА ЛАЗЕРА НА ОСНОВЕ КРИСТАЛЛА ФТОРИДА ЛИТИЯ С ЦЕНТРАМИ ОКРАСКИ Изобретение относится к области квантовой электроники, а именно к технологии изготовления оптически...

1152475

Способ измерения коэффициента остаточного поглощения в пассивных затворах на основе кристаллов lif с f-2 - центрами окраски

Способ измерения коэффициента остаточного поглощения в пассивных затворах на основе кристаллов lif с f-2 - центрами окраски

 (19)SU(11)1220475(13)A1(51)  МПК 6    G02F1/35(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 17.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОСТАТОЧНОГО ПОГЛОЩЕНИЯ В ПАССИВНЫХ ЗАТВОРАХ НА ОСНОВЕ КРИСТАЛЛОВ LIF С F-2 - ЦЕНТРАМИ ОКРАСКИ Изобретение относится к квантовой электронике и может быть использовано дл...

1220475

Способ изготовления активных элементов и пассивных затворов для лазера

Способ изготовления активных элементов и пассивных затворов для лазера

 Способ изготовления активных элементов и пассивных затворов для лазеров на основе монокристаллов фтористого лития с F-2-центрами окраски, включающий облучение кристаллов ионизирующей радиацией, отличающийся тем, что, с целью увеличения стабильности энергетических параметров среды, облученные монокристаллы дополнительно отжигают при температуре не выше 3685 К до установления неизменного зн...

1412546