МАЛКОВ ЯКОВ ВЕНИАМИНОВИЧ
Изобретатель МАЛКОВ ЯКОВ ВЕНИАМИНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Интегральный полупроводниковый преобразователь давления Интегральный полупроводниковый преобразователь давления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8fed4b1f28b1b0eaff742fd853fc34a3.jpg)
Интегральный полупроводниковый преобразователь давления
ИНТЕГРАЛЬНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДАВЛЕНИЯ, содержащий основание и прикрепленный к нему монокристаллический мембранный упругий элемент с утолщенной частью и размещенными на нем чувствительными элементами и концентраторами, отличающийся тем, что, с целью уменьшения размеров преобразователя и расширения диапазона измерений , в нем мембранный упругий элемент прикреплен...
1068748![Устройство для контроля и селекции изделий по надежности Устройство для контроля и селекции изделий по надежности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b9bfbd19b54c079116cad082a1985dd4.jpg)
Устройство для контроля и селекции изделий по надежности
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ И СЕЛЕКЦИИ. ИЗДЕЛИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ, содержащее блок ввода, соединенный входом с входной клеммой устройства, выходом - с первым входом первого классификатора, соединенного первым выходом с первым входом первого накопителя , о тличающееся тём что, с целью повышения достоверности контроля и надежности его, в устройство введены второй классификатор, второй н...
1112326![Интегральный полупроводниковый преобразователь давления Интегральный полупроводниковый преобразователь давления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f547b07f375828e7d090bc28fd12b0ec.jpg)
Интегральный полупроводниковый преобразователь давления
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для измерения давления при значительных изменениях температуры. Целью изобретения является повышение точности измерения за счет уменьшения нелинейности упругого элемента и расширения диапазона измерений. Для этого на упругой мембране 2 выполнено по крайней мере одно ребро жесткости 3 в форм...
1210076![Способ отбраковки ненадежных кмоп ис Способ отбраковки ненадежных кмоп ис](https://img.patentdb.ru/i/200x200/502a6294498222cc864bc707c0defe83.jpg)
Способ отбраковки ненадежных кмоп ис
Изобретение может быть использовано при производстве радиоэлектронной аппаратуры. Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки ненадежных комплементарных интегральных схем (ИС), ИС устанавливают в термокамеру, затем в течение 5-7 мин выдерживают при 50-70°С и измеряют ток потребления ИС. Затем аналогичная операция производится нри 90-120°С. Для каяудой ИС...
1239658![Способ отбраковки кмоп интегральных схем по уровням надежности Способ отбраковки кмоп интегральных схем по уровням надежности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e0b1e8a55b2a4e4828d75c95b3d2b1bc.jpg)
Способ отбраковки кмоп интегральных схем по уровням надежности
Изобретение относится к технической диагностике. Может быть использовано для повышения надежности электронной аппаратуры, построенной на КМОП микросхемах. Цель изобретения - повышение отбраковки потенциально надежных КМОП микросхем. На интегральную схему (ИС) подают номинальное напряжение питания и входные сигналы. Измеряют у всех ИС, входящих в контролируемую партию, величину ак...
1269061![Способ диагностического контроля тензорезистивных полупроводниковых интегральных преобразователей Способ диагностического контроля тензорезистивных полупроводниковых интегральных преобразователей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/de0b186d4afacfdf3b16f400574b8960.jpg)
Способ диагностического контроля тензорезистивных полупроводниковых интегральных преобразователей
Изобретение относится к электронной технике. Цель изобретения - повышение достоверности и быстродействия контроля. Контроль напряжений разбаланса в диагоналях мостовой структуры интегральных преобразователей (ИП) проводится при различной полярности питания. Структуры ИП нагреваются до температуры теплового баланса кристалла и подается постоянное напряжение. Положительный и отрица...
1430897![Способ контроля надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем Способ контроля надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/672407104faf8ff176378d3970b9e09b.jpg)
Способ контроля надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем
Изобретение относится к области электронной техники, в частности к контролю полупроводниковых приборов (ПП) и интегральных схем (ИС). Цель изобретения - повьшение достоверности контроля надежности ПП и ИС. При подаче на ПП или ИС напряжения питания измеряют реактивные составляющие мощности переходных процессов Р, и Р, , соответствующие фронту и спаду импульса напряжения питания....
1430913![Способ контроля качества интегральных схем Способ контроля качества интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0003a2b31fe16cc9a776b79e5462d8a9.jpg)
Способ контроля качества интегральных схем
Изобретение относится к области контроля изделий электронной техники. Цель изобретения - сокращение времени и повышение достоверности контроля за счет оптимального, выбора информативных цепей и величины измерительного тока. Реализация способа иллюстрируется примером. Партия микросхем подвергается измерению т-характеристик между следующими парами выводов; 4-6, 4-8, 5-4, 6-7. После...
1458842![Волоконно-оптический преобразователь перемещений Волоконно-оптический преобразователь перемещений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/cf2d4bf4e78c8fd00d4503a485faf030.jpg)
Волоконно-оптический преобразователь перемещений
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности и чувствительности за счет применения дифференциальной схемы измерений. Преобразователь состоит из оптически связанных источника 1 излучения, световода 2, световода 3 и фотоприемника 4 и оптически связанных источника 7 излучения, световода 8, световода 9 и фотоприемника 10. Перемещение...
1670404![Способ разбраковки полупроводниковых приборов и микросхем Способ разбраковки полупроводниковых приборов и микросхем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d7bccb71e05020768c3f3262009fc505.jpg)
Способ разбраковки полупроводниковых приборов и микросхем
Изобретение относится к неразрушающему контролю качества полупроводниковых приборов (ПП) и интегральных микросхем (ИМС) и может-быть использовано для отбраковки ПП и ИМС со скрытыми дефектами. Цель изобретения - уменьшение времени контроля - достигается за счет использования характеристик шумового сигнала, обладающих повышенной различимостью. Способ предусматривает измерение харак...
1714541![Способ изготовления оптического соединителя Способ изготовления оптического соединителя](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a6c232df3dbbccd06e347c7a34e60963.jpg)
Способ изготовления оптического соединителя
Сущность изобретения: световоды вклеивают во втулку. Разрезают втулку вместе со световодами под углом 45-60°. Полируют торцы полученных наконечников. Стыкуют наконечники в отверстии корпуса. При этом один из наконечников прижимается к стенке отверстия в плоскости, проходящей через ось наконечника и большую ось эллипса его скошенного торца. 1 ил. СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛ...
1765796![Способ определения линейных перемещений объектов с плоской зеркально-отражающей поверхностью Способ определения линейных перемещений объектов с плоской зеркально-отражающей поверхностью](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1f6a25df82520408b35f4b5800ceaf32.jpg)
Способ определения линейных перемещений объектов с плоской зеркально-отражающей поверхностью
Использование контрольно-измерительная техника, волоконно-оптические измерительные системы для бесконтактных измерений различных физических величин например давления, температуры, смещения , ускорения и др Сущность изобретения измеряют сигналы отраженного излучения с помощью волоконно-оптических датчиков, а расходимость излучения, направляемого в центральный световод, уменьшают н...
1774233![Датчик измерения толщины теплозащитного материала Датчик измерения толщины теплозащитного материала](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c80df00c6a1c884dfa1856dd8cbae42a.jpg)
Датчик измерения толщины теплозащитного материала
Использование: при измерении толщины теплозащитного материала, подвергающегося воздействию высокотемпературного газа при теплофизических исследованиях в машиностроении, доменном производстве и т.д. Сущность изобретения: датчик выполнен в виде пучка тонких и гибких волоконных световодов, разделенных на два жгута и связанных с блоками измерения толщины и измерения температуры. Датч...
1775652![Устройство для юстировки соединения двух волоконных мономодовых световодов Устройство для юстировки соединения двух волоконных мономодовых световодов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/007542b07683b98525941bbc50622391.jpg)
Устройство для юстировки соединения двух волоконных мономодовых световодов
Использование: волоконно-оптические системы. Сущность изобретения: устройство снабжено двумя рамками, в направляющих которых установлены ползушки с пальцами, сопрягающиеся с рычагами с опорными поверхностями, причем один из рычагов сопрягается с помощью регулируемой прорези, а другой сопрягается с пальцем по опорной поверхности, другие концы каждого из рычагов подсоединены к втул...
1820352