ФРЕНЧКО ВЛАДИМИР СТЕПАНОВИЧ
Изобретатель ФРЕНЧКО ВЛАДИМИР СТЕПАНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для деформирования образцов материалов Устройство для деформирования образцов материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/424466a82a82cc57459debf6d1334a92.jpg)
Устройство для деформирования образцов материалов
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДЕФОРМИРОВАНИЯ ОБРАЗЦОВ МАТЕРИАЛОВ, содержащее основание, штатив, шток-деформатор и матрицу, установленную на основании с возможностью перемещения перпендикулярно оси штока-деформатора и имеющую обращенный к последнему гибочный участок ступенчатой в направлении перемещения формы с различными радиусами закругления отдельных ступеней, отличающееся тем, что с целью об...
1070450![Способ препарирования образцов для просвечивающей электронной микроскопии Способ препарирования образцов для просвечивающей электронной микроскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e682adee2f15aa2ccc74f48a8e4977a7.jpg)
Способ препарирования образцов для просвечивающей электронной микроскопии
Изобретение относится к технике препарирования образцов для электронной микроскопии и может быть использовано при исследованиях тонкой структуры металлов и сплавов. Препарирование осуществляется электролитическим утонением дискообразной плоской заготовки, установленной между двумя шайбами 2 из проводящего материала . Утонение производят последовательно при увеличении обрабатываем...
1442861![Способ идентификации собственной оксидной фазы в ниобии и ванадии Способ идентификации собственной оксидной фазы в ниобии и ванадии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/feb3d0e8b64b6c6a245c30dace498923.jpg)
Способ идентификации собственной оксидной фазы в ниобии и ванадии
Изобретение относится к области металлургии , в частности к способу идентификации оксидной фазы в ниобии и ванадии, и может найти применение в металлообрабатывающей промышленности Цель - повышение надежности л улрб щеНие методики анализа оксидных, нитридных и карбидных фаз. Проводят оптическую визуализацию эндогенных включений в образце, затем его выдерживают в расплаве лития, по...
1754792![Способ препарирования образцов для просвечивающей электронной микроскопии Способ препарирования образцов для просвечивающей электронной микроскопии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/2b2026272dd1b5510da8369204e7656a.jpg)
Способ препарирования образцов для просвечивающей электронной микроскопии
Использование изобретения: в области исследования физических свойств материалов методом электронной микроскопии. Сущность изобретения: плоскую заготовку размещают в держателе между шайбами с разным внутренним диаметром, проводят двухэтапное электролитическое утонение заготовки до образования в ней отверстий, после первого этапа утонения заготовку переворачивают . 4 ил. СОЮЗ С...
1798651