PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МАТКОВСКИЙ АНДРЕЙ ОРЕСТОВИЧ

Изобретатель МАТКОВСКИЙ АНДРЕЙ ОРЕСТОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения коэффициентов пропускания и отражения плоскопараллельных образцов

Устройство для измерения коэффициентов пропускания и отражения плоскопараллельных образцов

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ПРОПУСКАНИЯ И ОТРАЖЕНИЯ ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ ОБРАЗЦОВ, содержащее источник потока монохроматического излучения , установленные по ходу излучения I линзовую систему, регулируемую щель, фотоприемник с частично отражающей приемной поверхностью и подвижную каретку для исследуемого образца, отличающееся тем, что, с целью повыщения точности локально...

1075124

Способ определения радиуса кривизны

Способ определения радиуса кривизны

  Изобретение относится к рентгеновской оптике. Целью изобретения является расширение области анализируемых материалов . Для этого регистрируют угловой интервал 2Д$ между рефлексами, обусловленными интерференцией между волной, отраженной поверхностью пластины, и волной, преломленной ею, и по значению углового интервала определяют радиус кривизны R поверхности пластины с помощью кал...

1656421

Способ неразрушающего контроля намагниченности насыщения магнитных пленок

Способ неразрушающего контроля намагниченности насыщения магнитных пленок

  Изобретение относится к технике измерения магнитных параметров и может быть использовано для неразрушающего локального экспресс-контроля намагниченности насыщения пленок с осью легкого намагничивания , расположенной в плоскости пленки Цель изобретения - повышение точности измерений - достигается тем, что переменное магнитное поле направлено в плоскости пленки, а регистрацию перем...

1691796

Способ определения магнитостатических параметров эпитаксиальных феррогранатовых пленок ориентации (iii) с фактором качества меньше единицы

Способ определения магнитостатических параметров эпитаксиальных феррогранатовых пленок ориентации (iii) с фактором качества меньше единицы

  Изобретение относится к измерению . магнитных параметров материалов и предназначено для определения-магнитостатипческих параметров эпитаксиальных феррограматовы) пленок в процессе их изготовления . Цель изобретения - расширение функциональных возможностей путем измерения параметров анизотропии. Для этого пленку при измерениях ориентируют перпендикулярно к направлению внешнего маг...

1756840