Реутов И.В.

 Использование: для приготовления образцов из полупроводников и диэлектриков для просвечивающей электронной микроскопии. Сущность изобретения: на одну из поверхностей образца, погруженного в химический реактив, воздействуют струей реактива, что приводит к его утонению, и на конечной стадии утонения в момент появления микроотверстия в утоненном участке образца блокируют обрабатываемую повер...

 Изобретение относится к области электроэрозионной обработки, а именно к стержневым электродам специального назначения, и может быть использовано в различных отраслях электронного машиностроения при формировании дискретных зон легирования высокотемпературных сверхпроводников и нанесении металлических нанокластеров на поверхности полупроводников и диэлектриков, а также модификации свойств т...

 Изобретение относится к области электронно-микроскопических исследований реальной микроструктуры твердых тел и может быть использовано для приготовления объектов из электропроводящих материалов для просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). В изобретении на одну из поверхностей образца, погруженного в электролит, действует регулируемая по частоте и амплитуде пульсирующая струя электрол...