АСЛАНЯН ВАРДАН ГРИГОРЬЕВИЧ
Изобретатель АСЛАНЯН ВАРДАН ГРИГОРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
Способ исследования плотности материалов
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЛОТНОСТИ МАТЕРИАЛОВ, основанный на пропускании рентгеновского излучения через образец и регистрации прошедшего через образец излучения, о т личающийс я тем, что, с целью повышения чувствительности к неоднородностям распределения плотности , образец размещают в зазоре рентгеновского двублочного монокристаллического интерферометра с расстоянием между блоками, м...
1078296Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла
, SU„„111750 СОЮЗ СОВЕТСНИХ COUNI РЕСПУБЛИН g G0I К 2320 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОсудАРстВенный Комитет сссР r1O ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИй (21) 35955 15/!8-25 (22) 25.05.83 (46) 07.10.84. Бюл. 937 (72) П.А. Безирганян и В.Г.Асланян (71) Ордена Трудового Красного Знамени ереванский государственный университет (53) 548.73 (088.8) (56) 1. Bonse U.,Ha...
1117503Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты)
1. Рентгенографический способ исследования совершенства монокристаллов , по которому лентообразный пучок рентгеновского излучения направляют на неподвижный исследуемый монокристалл и регистрируют за ним секцион- v ную дифракционную картину, о г л ич ающий ся тем, что, с целью расширения информативности исследования , в качестве исследуемого монокристалла используют ступенчатый мо...
1133520Способ рентгеновской топографии кристаллов
Изобретение относится к рентгенотопографическим исследованиям несовершенств кристаллов и может быть использовано для исследований структурных искажений почти совершенных кристаллов. Целью изобретения является повышение информативности за счет одновременного наблюдения эффектов маятникового решения и аномального прохождения. Это достигается приданием исследуемому кристаллу клиновид...
1562804