НАГОРНАЯ ТАТЬЯНА ВЛАДИМИРОВНА

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛБНОГО ЗНАЧЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ВТОРИЧНОЙ ИОННО-ИОННОЙ эмиссии КОМПОНЕНТ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДБ1Х ТЕЛ, заключающийся в проведении ионного легирования твердого тела, распылении его первичным пучком ионов и масс-анализе возникающих при этом токов вторичных ионов исследуемых и легированной компонент и вычисления отнощений первых .к второму при постоянном значени...

  Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов. Цепь изобретения - повышение Точности и воспроизводимости измерений козффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца. Образец, например техническое железо, содержащее Clr, .V и Zrt , помещают в ваку- ,.умную камеру. Камеру откачивают до давления , и очищают поверхность образца ионным пучком с энергией 5 кэВ и то...

  Изобретение относится к области масс-спектрометрии вторичных ионов. Цель изобретения - повышение точности послойного анализа твердых веществ . Железо и кремний испаряли в вакуумной камере в присутствии кислорода давлением . Полученный многослойный образец с толщиной каждого слоя 200-50 атомных слоев бомбардировали первичными ионами Аг с энергией кэВ. Вторичные ионы Fe регистриров...

  Изобретение относится к массспектрометрии вторичных ионов. Может быть использовано для элементного и фазового анализа твердых ветцеств. Целью .изобретения является повьшение точности анализа. Способ предусматривает легирование твердого вещества (ТВ) известным количеством заданного элемента, бомбардировку его пучком первичных ионов, масс-анализ и регистрацию потоков вторичных ионо...