КОВАЛЬ ЛАРИСА ПЕТРОВНА

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УПРУГОЙ ДЕФОРМАЦИИ В ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СИСТЕМАХ, включающий облучение образца и регистрацию брэгговских,отражений для плоскостей, нормаль к которым состав-, ляет угол 0-90 с нормалью к поверхности образца, от пи ч а ю щ и и с я тем, что, с целью упрощения способа и повышения его экспрессности, регистрируют серию 6-28 кривых для отражений одинаково ориентированных...

  Изобретение относится к средствам рентгенографического контроля материалов, может, в частности, использоваться при исследовании тонкопленочных материалов. Цель изобретения состоит в повышении разрешения и контраста дифракционной картины. Для осуществления способа пучок рентгеновских лучей, идущий из источника 3, преобразуют с помощью монохроматора 4 и щелевой системы 5 таким образ...