PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ШКУРИНА НАДЕЖДА АЛЕКСЕЕВНА

Изобретатель ШКУРИНА НАДЕЖДА АЛЕКСЕЕВНА является автором следующих патентов:

Устройство для измерения параметров рассеяния транзисторов

Устройство для измерения параметров рассеяния транзисторов

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИН 09) (И), M5I) G 01 R 31 2.6 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3488414/18-21 (22) 03.09.82 (4Ь) 07.04.84. Бюл. 9 13 (72) И.A.Ìèðoøíèê, Н.A.Øêóðèíà, Ю.Л.Нуров, В.Н.Горин и Т.A.Èàëàøèõèí (53) 621.383.3 (088.8) (56) 1. Столярский Э. Измерение параметров . транзисторов. M., "Сов. радио", 1976, с. 267. 2....

1084709

Способ определения линейных параметров многополюсника

Способ определения линейных параметров многополюсника

  Изобретение относится к технике радиоизмерений и обеспечивает повышение точности за счет устранения погрешностей, обусловленных паразитными элементами резисторов. Способ заключается в том, что на один вход исследуемого многополюсника (ИМИ) 5 через последовательно включенный резистор 2 подают синусоидальньш сигнал от источника 1 синусоидального сигнала. К другим входам ИМП 5 подкл...

1317370