КАЛАЧЕВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель КАЛАЧЕВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:

Форма для изготовления криволинейных изделий из бетонных смесей
ФОРМА ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КРИВОЛИНЕЙНЫХ ИЗДЕЛИЙ ИЗ БЕТОННЫХ СМЕСЕЙ, содержащая установленный на раме поддон с поперечными и съемными продольными бортами, отличающаяся тем, что, с целью обеспечения возможности изготовления изделий двоякой кривизны, рама выполнена в виде соединенных между собой посредством стоек и раскосов горизонтального и дугообразного поясов , поддон - в виде закре...
1090559
Способ определения скорости изменения нестационарной газовой неоднородности
Изобретение относится к экспериментальным методам исследования нестационарных и быстропротекающих процессов в прозрачных неоднородностях с помощью оптический устройств. Целью изобретения является увеличение точности определения скорости. Через оптические окна ударной трубы с помощью последовательных во времени кратковременных световых импульсов регистрируют оптические теневые кар...
1233089
Способ определения бикомплексных параметров материалов на свч
Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения - повышение точности. В первой серии измерений электромагнитное излучение от панорамного измерителя КСВН через антенну направляют на структуру, состоящую из исследуемого материала (ИМ), промежутка, заполненного диэлектриком в виде диэлектрических прокладок, и металлического экрана (МЭ). Изменением кол - ва диэлектр...
1483394