Глебов Л.Б.

  Использование: в неразрушающих методах контроля с использованием ионизирующего излучения. Сущность изобретения: после предварительного облучения поверхности пучком ионизирующего излучения измеряют энергетическое распределение электронов, эмиттируемых поверхностью в интервале температур 130-150°С с поверхности контролируемых образцов, и по значению средней кинетической энергии судят о луч...

 Использование: для электронной и оптиэлектронной техники, в частности фотолитографии. Сущность изобретения: оптическое стекло содержит в мас.%: оксид кремния 20 - 40 БФ SiO2, оксид бора 25 - 40 БФ B2O3, оксид алюминия 13 - 22 БФ Al2O3, оксид магния 1-4 БФ MgO, оксид кальция 7 - 15 БФ СаО, по крайней мере один оксид из группы: оксид титана, оксид циркония, оксид олова, оксид гафния 1 - 6 Б...

 Использование: для изготовления оптических элементов фотоэлектронных, оптоэлектронных и оптических приборов, работающих в условиях воздействия проникающей радиации. Радиационно устойчивое стекло содержит оксид кремния 14-51 БФ SiO2, оксид германия 7-60 БФ GeO2, оксид циркония 3-21 БФ ZrO2, оксид церия 0,5-6,5 БФ GeO2, оксид натрия 4-14 БФ Na2O, оксид калия 0.01-10 БФ K2O, оксид лития 0,01...

 Использование: для изготовления микроканальных усилителей. Стекло имеет состав (мас.%) по основному пункту: стекло для микроканальных усилителей содержит, мас. %: оксид кремния - 20 - 72 БФ SiO2, оксид алюминия - 2 - 25 БФ Al2O3, оксид бора - 1 - 40 БФ B2O3 и по крайней мере один оксид из группы оксиды меди - 2 - 20, БФ CuO, Cu2O, причем суммарное содержание оксидов меди не превышает 20....

 Изобретение относится к области спектрального приборостроения. Сущность: спектрометр содержит расположенные на круге Роуланда входную спектральную щель, вогнутую дифракционную решетку и блок сканирования. Блок сканирования состоит из установленной с возможностью перемещения по кругу Роуланда выходной спектральной щели, которая содержит три пары расположенных в одной плоскости симметрично...

 Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения и может быть использовано в спектрографах, предназначенных для получения и регистрации атомных и молекулярных спектров при проведении различных спектроскопических исследований, для качественного и количественного эмиссионного анализа, в интерференционной спектрорефрактометрии и при решении других задач в области спе...