ПОМЯЛОВ АНДРЕЙ ВЛАДИМИРОВИЧ

  СПОСОБ ЛОКАЛЬНОГО ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО МАТЕРИАЛА, вкл|очающий воздействие на исследуе№1й полупроводниковый материал переменным магнитным полем сверхвысокой частоты, отличающийся тем, что с целью увеличения разрешающей способности и расширения диапазона измеряемых величин, к исследуемой области исследуемого полупроводникового материала прикладывают...

  Изобретение может быть использовано при исследовании характеристик магнитных пленок. Целью изобретения является повышение точности измерений, намагниченности насыщения ферритовых пленок. Устройство, реализующее способ, содержит ферродиэлектрическую пластину с отверстием, на которую помещается исследуемая пленка, высокочастотный детектор 5 высокочастотный генератор 1, аттенюатор 2,...