ШЕРОЗИЯ ГЕОРГИЙ АРКАДЬЕВИЧ
Изобретатель ШЕРОЗИЯ ГЕОРГИЙ АРКАДЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Масс-спектрометрический способ анализа твердых тел Масс-спектрометрический способ анализа твердых тел](https://img.patentdb.ru/i/200x200/692210ad2ea8f7e0aee4b1d43b625b1b.jpg)
Масс-спектрометрический способ анализа твердых тел
МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ ТЕЛ, заключающийся в ионизации исследуемого образца импульсами лазерного излучения, разделении полученных ионов по отношениям М/2 п пространстве дрейфа с последующим воздействием на пакеты ионов электрическим полем энергоанализатора и детектировании определяемых ионов, отличающийся тем, что, с целью р 1сширения функциональных возможн...
1105962![Способ атомно-флуоресцентного анализа твердых образцов Способ атомно-флуоресцентного анализа твердых образцов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c8432600a6e17bdd39dbba5a2300ecdb.jpg)
Способ атомно-флуоресцентного анализа твердых образцов
Изобретение относится к спектроскопии и может быть использовано для анализа компонентного состава твердых образцов. Целью является повышение экспрессности атомно-4луоресцентного анализа. Для определения концентрации примеси в образце необходимо знать полное количество вещества. Количество испаренной примеси определяют по сигналу флуоресценции. Массу пробы определяют по отношению...
1305580![Способ времяпролетной масс-спектрометрии Способ времяпролетной масс-спектрометрии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d3e108e9e1f03d2c67c66b1d3cd4436a.jpg)
Способ времяпролетной масс-спектрометрии
Использование: относится к массспектрометрии. Сущнрстъ изобретения: в источнике 1 ускоренные ионы направляются в первое бесполевое пространство . Разделенные на пакеты ионы подвегаются воздействию переменного во времени отражающего поля. После прохождения второго бесполевого пространства ионы фокусируются в плоскости детектора. 2 ил. ел (51)5 Н 01 1 49/40 1 .y1 0 i) ОПИСАНИЕ...
1737560![Способ масс-анализа ионов Способ масс-анализа ионов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/74713f463abe470724a60f6b8bbf4b34.jpg)
Способ масс-анализа ионов
Использование: относится к масс-спектрометрии для исследования элементного состава непрерывных ионных пучков, формируемых различными источниками. Сущность изобретения заключается в регистрации информативного сигнала неотклоненных от первоначальной траектории ионов, соответствующего уменьшению или отсутствию полного ионного тока, при этом по времени между отклонением ионного пучка...
1758705![Способ элементного анализа поверхностных слоев твердых тел Способ элементного анализа поверхностных слоев твердых тел](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f24669be8b31c646eea72ee95701708f.jpg)
Способ элементного анализа поверхностных слоев твердых тел
Использование: элементный анализ поверхностных слоев твердых тел, например, тонкопленочных структур в материалах и изделиях микроэлектроники . Сущность изобретения: способ включает распыление поверхности твердого тела пучком ионов, одновременное воздействие на распыляемую область твердого тела лазерным излучением с определенной энергией фотонов , сепарацию по массам распыленных и...
1777187