PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ШЕРОЗИЯ ГЕОРГИЙ АРКАДЬЕВИЧ

Изобретатель ШЕРОЗИЯ ГЕОРГИЙ АРКАДЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Масс-спектрометрический способ анализа твердых тел

Масс-спектрометрический способ анализа твердых тел

  МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ АНАЛИЗА ТВЕРДЫХ ТЕЛ, заключающийся в ионизации исследуемого образца импульсами лазерного излучения, разделении полученных ионов по отношениям М/2 п пространстве дрейфа с последующим воздействием на пакеты ионов электрическим полем энергоанализатора и детектировании определяемых ионов, отличающийся тем, что, с целью р 1сширения функциональных возможн...

1105962

Способ атомно-флуоресцентного анализа твердых образцов

Способ атомно-флуоресцентного анализа твердых образцов

  Изобретение относится к спектроскопии и может быть использовано для анализа компонентного состава твердых образцов. Целью является повышение экспрессности атомно-4луоресцентного анализа. Для определения концентрации примеси в образце необходимо знать полное количество вещества. Количество испаренной примеси определяют по сигналу флуоресценции. Массу пробы определяют по отношению...

1305580

Способ времяпролетной масс-спектрометрии

Способ времяпролетной масс-спектрометрии

  Использование: относится к массспектрометрии. Сущнрстъ изобретения: в источнике 1 ускоренные ионы направляются в первое бесполевое пространство . Разделенные на пакеты ионы подвегаются воздействию переменного во времени отражающего поля. После прохождения второго бесполевого пространства ионы фокусируются в плоскости детектора. 2 ил. ел (51)5 Н 01 1 49/40 1 .y1 0 i) ОПИСАНИЕ...

1737560

Способ масс-анализа ионов

Способ масс-анализа ионов

  Использование: относится к масс-спектрометрии для исследования элементного состава непрерывных ионных пучков, формируемых различными источниками. Сущность изобретения заключается в регистрации информативного сигнала неотклоненных от первоначальной траектории ионов, соответствующего уменьшению или отсутствию полного ионного тока, при этом по времени между отклонением ионного пучка...

1758705

Способ элементного анализа поверхностных слоев твердых тел

Способ элементного анализа поверхностных слоев твердых тел

  Использование: элементный анализ поверхностных слоев твердых тел, например, тонкопленочных структур в материалах и изделиях микроэлектроники . Сущность изобретения: способ включает распыление поверхности твердого тела пучком ионов, одновременное воздействие на распыляемую область твердого тела лазерным излучением с определенной энергией фотонов , сепарацию по массам распыленных и...

1777187