Жмайло В.В.

 Использование: для анализа элементного состава материалов. Сущность изобретения: формируют оптически тонкую субмикронную пленку селективного ионообменного материала (или хелата) на оптически гладкой поверхности подложки. Исследуемый раствор контактируют с пленкой в течение расчетного времени, затем удаляют остатки анализируемого раствора. Подготовленную пленку подвергают воздействию перви...