ЗНАМЕНСКАЯ ТАТЬЯНА ДМИТРИЕВНА
Изобретатель ЗНАМЕНСКАЯ ТАТЬЯНА ДМИТРИЕВНА является автором следующих патентов:
![Устройство для контроля и селекции изделий по надежности Устройство для контроля и селекции изделий по надежности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b9bfbd19b54c079116cad082a1985dd4.jpg)
Устройство для контроля и селекции изделий по надежности
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ И СЕЛЕКЦИИ. ИЗДЕЛИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ, содержащее блок ввода, соединенный входом с входной клеммой устройства, выходом - с первым входом первого классификатора, соединенного первым выходом с первым входом первого накопителя , о тличающееся тём что, с целью повышения достоверности контроля и надежности его, в устройство введены второй классификатор, второй н...
1112326![Способ отбраковки ненадежных кмоп ис Способ отбраковки ненадежных кмоп ис](https://img.patentdb.ru/i/200x200/502a6294498222cc864bc707c0defe83.jpg)
Способ отбраковки ненадежных кмоп ис
Изобретение может быть использовано при производстве радиоэлектронной аппаратуры. Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки ненадежных комплементарных интегральных схем (ИС), ИС устанавливают в термокамеру, затем в течение 5-7 мин выдерживают при 50-70°С и измеряют ток потребления ИС. Затем аналогичная операция производится нри 90-120°С. Для каяудой ИС...
1239658![Способ контроля качества интегральных схем Способ контроля качества интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0003a2b31fe16cc9a776b79e5462d8a9.jpg)
Способ контроля качества интегральных схем
Изобретение относится к области контроля изделий электронной техники. Цель изобретения - сокращение времени и повышение достоверности контроля за счет оптимального, выбора информативных цепей и величины измерительного тока. Реализация способа иллюстрируется примером. Партия микросхем подвергается измерению т-характеристик между следующими парами выводов; 4-6, 4-8, 5-4, 6-7. После...
1458842![Способ разбраковки полупроводниковых приборов и микросхем Способ разбраковки полупроводниковых приборов и микросхем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d7bccb71e05020768c3f3262009fc505.jpg)
Способ разбраковки полупроводниковых приборов и микросхем
Изобретение относится к неразрушающему контролю качества полупроводниковых приборов (ПП) и интегральных микросхем (ИМС) и может-быть использовано для отбраковки ПП и ИМС со скрытыми дефектами. Цель изобретения - уменьшение времени контроля - достигается за счет использования характеристик шумового сигнала, обладающих повышенной различимостью. Способ предусматривает измерение харак...
1714541