ВАГАРИН АНАТОЛИЙ ЮРЬЕВИЧ
Изобретатель ВАГАРИН АНАТОЛИЙ ЮРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8fcac9ef07c0c4b7c9f8798510a2f6bd.jpg)
Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ МАТЕРИАЛОВ , содержащее измерительную камеру , подключенную к активному элементу для генерации СВЧ колебаний с резистором в цепи питания, делитель напряжения, подключенный параллельно цепи питания и индикатор между резистором и плечами делителя, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, центральный проводник с одн...
1114979![Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d20cc648afa3f22b69f0dc78ef6b8c5f.jpg)
Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ , содержащее измерительную камеру , в которой установлен активный элемент с резистором в цепи питания , и индикатор, отличающееся тем, что, с целью повьшения точности, введен усилитель с регулируемым коэффициентом усиления, вход которого подключен к активному элементу, а его выход подсоединен к прямому входу введенног...
1161898![Устройство для диагностирования цифровых узлов Устройство для диагностирования цифровых узлов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/962433e0b828fac7c787949f511b3917.jpg)
Устройство для диагностирования цифровых узлов
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в устройствах тестового диагностирования цифровых узлов и блоков. Цель изобретения - повышение быстродействия. Устройство содержит блоки 1-4 памяти, блок 5 управления, блок 6 индикации, блок 7 фиксации дефектов, блок 8 коммутации, узел 9 контроля. Узлы диагностирования устройства могут работать в...
1520517![Устройство для измерения параметров материалов Устройство для измерения параметров материалов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7049b56e390b733ff183e4383a38c3f7.jpg)
Устройство для измерения параметров материалов
Изобретение относится к контрольноизмерительной СВЧ-технике и может быть использовано в технологических процессах электронной промышленности при контроле электрофизических параметров цилиндрических образцов (ЦО) из полупроводниковых , диэлектрических материалов или их структур. Цель изобретения - повышение локальности измерений ЦО. Устр-во содержит отрезок 1 прямоугольного волнов...
1626138