ХАШИМОВ РУСТАМ НАДЫРОВИЧ
Изобретатель ХАШИМОВ РУСТАМ НАДЫРОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ определения толщины пленки
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЦПЕНКИ, заключающийся в том, что направляют пучок монохроматического излучения на эталонные пленки, измеряют интенсивность рассеянного излучения строят градуировочный график, связьгоающий толщину эталонных пленок с интенсивностью рассеянного излучения, направляют пучок монохроматического излучения на контролируемую пленку, измеряют интенсивность рассеян...
1128114