PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СУЩИНСКИЙ МИХАИЛ МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель СУЩИНСКИЙ МИХАИЛ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения толщины пленки

Способ определения толщины пленки

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЦПЕНКИ, заключающийся в том, что направляют пучок монохроматического излучения на эталонные пленки, измеряют интенсивность рассеянного излучения строят градуировочный график, связьгоающий толщину эталонных пленок с интенсивностью рассеянного излучения, направляют пучок монохроматического излучения на контролируемую пленку, измеряют интенсивность рассеян...

1128114