ТИМОШЕЧКИН МИХАИЛ ИВАНОВИЧ
Изобретатель ТИМОШЕЧКИН МИХАИЛ ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ выявления дефектов в интегральных магнитных схемах на цилиндрических магнитных доменах Способ выявления дефектов в интегральных магнитных схемах на цилиндрических магнитных доменах](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0426cb658e71cca0e2df09200db3a496.jpg)
Способ выявления дефектов в интегральных магнитных схемах на цилиндрических магнитных доменах
1. СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВ В ИНТЕГРМЬНЫХ МАГНИТНЫХ СХЕМАХ НА ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ МАГНИТНЫХ ДОМЕНАХ, основанный на намагничивании доменосодержащей пленки до состояния насыщения , воздействии на нее импульсным магнитным полем обратной полярности и поляризованным светом и регистрации в доменосодержащей пленке нестабильных локальных областей с обратной намагниченностью, по которым судят...
1130899![Способ измерения температуры Способ измерения температуры](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b2779af557f8cf6013012b829f72811c.jpg)
Способ измерения температуры
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении локального распределения температуры в микрообъектах . Цель изобретения - повьшение быстродействия и точности измерений за счет увеличения отношения сигнал - шум при регистрации перемагниченных областей. В качестве термочувствительного элемента (ТЧЭ) используют висмутсодержащую эпитаксиальную...
1318807![Магнитооптическая структура и способы получения материала подложки и монокристаллической пленки феррит-граната Магнитооптическая структура и способы получения материала подложки и монокристаллической пленки феррит-граната](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6078169cdf34aa780de6323ddf01db15.jpg)
Магнитооптическая структура и способы получения материала подложки и монокристаллической пленки феррит-граната
Изобретение относится к области магнитооптики и может найти применение при изготовлении оптических изоляторов. Цель изобретения - увеличение угла фарадеевского вращения плоскости поляризации излучения и оптической однородности структуры. Структура включает подложку состава YpGdqScuAlvOi2, на которой выращена пленка феррит-граната состава YxTbyFe5-z(CaAI)2Oi2 Составы пленок и подл...
1744690