ЧЕРНОВ МИХАИЛ АЛЕКСАНДРОВИЧ

  СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ ТОПОГРАММ МОНОКРИСТАЛЛОВ НА ОТРАЖЕНИЕ, включающий облучение исследуемого кристалла расходящимся пучком немонохроматизированного рентгеновского излучения микрофокусного источника, сканирование монокристалла при такой его ориентации , что отражающие плоскости при сканировании остаются параллельными плоскости регистрации и регистрацию диф...

  Изобретение относится к методам исследования реальной структуры кристаллов. Целью изобретения является повышение производительности при получении топограмм от кристаллов большой площади методом углового сканирования с сохранением высокого разрешения. При осуществлении, способа на кристалл 3 направляют немонохроматизированный пучок рентгеновских лучей, выделенных из расходящегося...