ПЛАТОНОВ ЕВГЕНИЙ МИХАЙЛОВИЧ

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОМПЕНСАЦИИ АБЕРРАЦИЙ ПОДЛОЖКИ ГОЛОГРАММЫjсодержащее сигнальную и опорную ветви, держатель голограммы и размещенные в сигнальной ветви оборачивающий оптический элемент и линзовую систему, оптически сопрягающую отражаюш гю поверхность элемента и плоскость держателя голограммы, о т л, и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью увеличения дифракционной эффективности голограмм...

  Изобретение относится к оптическим средствам измерений в прозрачных неоднородностях, может использоваться в экспериментальной газодинамике , теплофизике, физике плазмы при исследовании фазовых сред и направлено на повышение точности определения пространственного распределения показателя преломления в неоднородности . Способ количественного исследования пространственных неоднородн...

  Изобретение относится к приборам для изучения оптических неоднородностей в прозрачных средах. Дпя увеличения быстродействия и светосилы сканирующая система выполнена в виде зеркала 3, установленного с возможностью поворота вокруг оси, совпадающей с линией пересечения фокальных плоскостей цилиндрической линзы 2и объектива 4. При повороте зеркала 3в пределах апертуры объектива 4 св...

  Изобретение относится к опти-, ческому приборостроению. Цель состоит в расширении области применения и компенсации аберраций оптической системы. Опорную диаграмму записывают без однородности. Затем совмещают опорную и объектную голограммы и приводят одну из голограмм в движение с постоянной скоростью. Точное совмещение голограмм фиксируют по дополнительному электрическому сигналу...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для технологического и выходного контроля при измерении линейных и угловых размеров объектов. Цель изобретения -расширение функциональных возможностей за счет определения угловых размеров изделий. Сканирующий блок, выполненный в виде фазовой дифракционной решетки 2 и диафрагмы 3 с отверстиями, установленный с...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля диаметра стекловолокна в процес се его изготовления, Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля. Просвечивают лазерным излучением контролируемое и эталонное волокна, измеряют распредлеение интенсивности дифракционной картины в дальней зоне с помощью матрицы фотодатчиков и...

  Сущность изобретения: устройство содержит последовательно установленные источник света, конденсорную систему, эталонную голограмму, светоделитель, оптическую систему фильтрации, включающую оборачивающую систему, фильтр пространственных частот и плоское зеркало , плоскость которого оптически сопряжена с эталонной и объектной голограммами, а нормаль к поверхности зеркала совпадает...