PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СУМЕНКОВА ИРИНА НИКОЛАЕВНА

Изобретатель СУМЕНКОВА ИРИНА НИКОЛАЕВНА является автором следующих патентов:

Искатель к дефектоскопу

Искатель к дефектоскопу

  ИСКАТЕЛЬ К ДЕФЕКТОСКОПУ, содержащий излучающую и приемную головки, каждая из которых содержит корпус с установленными в нем пьезопреобразователем с согласующим слоем из звукорадиопрозрачного материала и электромагнитной антенной, отличающи, йся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей и повышения чувствительности искателя, каждая головка снабжена звукорадиопрозрач...

1147974

Устройство для вихретоковой дефектоскопии слабопроводящих материалов

Устройство для вихретоковой дефектоскопии слабопроводящих материалов

  Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля вихретоковыми методами .и может быть использовано в промышленности для дефектоскопии углерод-углеродных и углепластиковых композиционных материалов . Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счёт ослабления влияния мешаюш х факторов и вьщеления информативных параметров. Устройство содержит рабочий и и...

1260835

Устройство для вихретоковой дефектоскопии

Устройство для вихретоковой дефектоскопии

  Изобретение относится к средствам вихретокового контроля проводящих материалов и изделий и может быть использовано для контроля поверхностных трещин в режиме автоматического сканирования поверхности изделия. Целью изобретения является увеличение производительности контроля за счет вьщеления импульсных характеристик объекта. Сигнал с первичного преобразователя поступает на аналого...

1308885

Устройство для вихретоковой дефектоскопии неоднородных материалов

Устройство для вихретоковой дефектоскопии неоднородных материалов

  Изобретение относится к методам неразрушающего контроля неоднородных материалов и изделий из них и может быть использовано, для контроля поверхностных трещин. Целью изобретения является автоматизация контроля глубины поверхностных трещин за счет определения максимального значения текущей разности сглаженных отсчетов. В процессе сканирования контролируемого изделия измерительный к...

1308887

Устройство для вихретоковой дефектоскопии

Устройство для вихретоковой дефектоскопии

  Изобретение позволяет повысить ;точность контроля за счет исключе ния влияния на результаты контроля величины зазора между вихретоковым преобразователем и контролируемым изделием и изменения электропроводности контролируемого материала. Устройство содержит рабочий (вихретоковьй) и корректирующий каналы, подключенные к кйскадно соединенным арифметическому блоку, цифровому компенса...

1449890


Устройство для измерения глубины поверхностных трещин в проводящих материалах

Устройство для измерения глубины поверхностных трещин в проводящих материалах

  Изобретение относится к кондуктометрическим устройствам для измерения глубины поверхностных трещин в проводящих материалах и может быть использовано для контроля углеграфитных и углепластиковых композитных материалов. Целью изобретения является повышение чувствительности и достоверности измерений. Электродная система состоит из пяти электродов, четыре из которых размещены на общем...

1536289