ФИЗГЕЕР БОРИС МИХАЙЛОВИЧ
Изобретатель ФИЗГЕЕР БОРИС МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения энергетических распределений заряженных частиц
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ РАСПРЕДЕЛЕНИЙ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ, основанный на пропускании пучка заряженных частиц последовательно через радиальное электрическое и поперечное магнитное поля, . изменяющиеся во времени, и в регистрации тока частиц на выходе и радиусов их поворота в электрическом ( Рд ) ив магнитном ( IM ) полях, о тличающийся тем, что, с целью повьшения скорости...
1148062
Способ калибровки энергетической шкалы энергомасс- анализатора вторичных ионов
Изобретение относится к исследованию материалов при помощи вторичной ионной эмиссии и может быть использовано для изучения физико-химических процессов на поверхности и в объеме твердых тел. Целью изобретения является ускорение процесса калибровки и повышение точности.Способ основан на том, что вторичные ионы инертного газа имеют пик энергетического распределения в области тепловы...
1292071
Способ контроля влияния газовыделений из катушек герметичных электромагнитных коммутационных аппаратов эмка на их работоспособность
Изобретение относится к электроаппаратостроению и может быть использовано при производстве электромагнитных коммутационных аппаратов (ЭМКА) и для их диагностического контроля. Цель изобретения - получение достоверной информации о влиянии продуктов газовыделения на работоспособность ЭМКА. Для этого измеряется сопротивление контактов и изоляции обмотки после каждого из двух повторен...
1605287
Устройство для масс-спектрометрического анализа диэлектрических кристаллов
Использование: радиоэлектроника, микроэлектроника и физхимия поверхности . Сущность изобретения: площадь отверстия для помещения исследуемого кристалла St, площадь выходной диафрагмы системы формирования пучка первичных ионов За и площадь входной диафрагмы системы сбора вторичных ионов Зз связаны соотношением . Это позволяет сохранить условия выбивания и сбора вторичных ионов, ис...
1756972