PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ФИЗГЕЕР БОРИС МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель ФИЗГЕЕР БОРИС МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения энергетических распределений заряженных частиц

Способ определения энергетических распределений заряженных частиц

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ РАСПРЕДЕЛЕНИЙ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ, основанный на пропускании пучка заряженных частиц последовательно через радиальное электрическое и поперечное магнитное поля, . изменяющиеся во времени, и в регистрации тока частиц на выходе и радиусов их поворота в электрическом ( Рд ) ив магнитном ( IM ) полях, о тличающийся тем, что, с целью повьшения скорости...

1148062

Способ калибровки энергетической шкалы энергомасс- анализатора вторичных ионов

Способ калибровки энергетической шкалы энергомасс- анализатора вторичных ионов

  Изобретение относится к исследованию материалов при помощи вторичной ионной эмиссии и может быть использовано для изучения физико-химических процессов на поверхности и в объеме твердых тел. Целью изобретения является ускорение процесса калибровки и повышение точности.Способ основан на том, что вторичные ионы инертного газа имеют пик энергетического распределения в области тепловы...

1292071

Способ контроля влияния газовыделений из катушек герметичных электромагнитных коммутационных аппаратов эмка на их работоспособность

Способ контроля влияния газовыделений из катушек герметичных электромагнитных коммутационных аппаратов эмка на их работоспособность

  Изобретение относится к электроаппаратостроению и может быть использовано при производстве электромагнитных коммутационных аппаратов (ЭМКА) и для их диагностического контроля. Цель изобретения - получение достоверной информации о влиянии продуктов газовыделения на работоспособность ЭМКА. Для этого измеряется сопротивление контактов и изоляции обмотки после каждого из двух повторен...

1605287

Устройство для масс-спектрометрического анализа диэлектрических кристаллов

Устройство для масс-спектрометрического анализа диэлектрических кристаллов

  Использование: радиоэлектроника, микроэлектроника и физхимия поверхности . Сущность изобретения: площадь отверстия для помещения исследуемого кристалла St, площадь выходной диафрагмы системы формирования пучка первичных ионов За и площадь входной диафрагмы системы сбора вторичных ионов Зз связаны соотношением . Это позволяет сохранить условия выбивания и сбора вторичных ионов, ис...

1756972