PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МИХНЕВ ВАЛЕРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ

Изобретатель МИХНЕВ ВАЛЕРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения толщины и диэлектрической проницаемости диэлектрических пленок

Устройство для измерения толщины и диэлектрической проницаемости диэлектрических пленок

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ И ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК, содержащее последовательно соединенные частотно-модулированный СВЧ-генератор , волноводно-лучевой переход, вращатель плоскости поляризации, передающую антенну, делитель луча, к первому плечу которого обращен вход резонатора с зеркалами, в котором при измерениях исследуемая диэлектрическая пле...

1149187

Способ обнаружения трещин в листовых диэлектриках

Способ обнаружения трещин в листовых диэлектриках

  Изобретение относится к технике СВЧ-измерений. Повышается вероятность обнаружения трещин на фоне мешающих факторов. Уст-во, поясняющее способ, содержит свип-генератор 1, блок 2 питания, делитель 3 мощности, циркуляторы 4, приемно-передающие антенны 5, волноводный мост 6, балансный смеситель (БС) 7, блок 8 обработки и индикации. Появление трещин приводит к уменьшению коэф. отражен...

1242781

Способ контроля анизотропии диэлектрических материалов и устройство для его осуществления

Способ контроля анизотропии диэлектрических материалов и устройство для его осуществления

  Изобретение Ъ носится к контрольно-измерительной технике. Повышается чувствительность и точность контроля. Устр-во содержит СВЧ-г р 1, формирователь 2 поляризации, вращатель 3 плоскости поляризации,датчик 4 угла поворота, передающую всеполяризованную антенну 5, приемную всеполяризованную антенну 6, анализатор 8 поляризации, СВЧ-детектор 9, у-ль 10, пиковый детектор 12, блок 13 об...

1255904

Свч-дефектоскоп

Свч-дефектоскоп

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕС11УБЛИК (50 4 G 01 N 22/02 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ Х АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3736677/24-09 (22) 04.05.84 (46) 07.01 ° 87 Бюл. 1 1 (7 1) Институт прикладной физики АН БССР (72) В.А.Конев и В.А.Михнев (53) 621.317.39(088.8 ) (56) Авторское свидетельство СССР Ф 726475, кл. G 01...

1281987

Устройство для измерения параметров анизотропных материалов

Устройство для измерения параметров анизотропных материалов

  Изобретение может быть использовано при структурометрии, дефектоскопии и контроле физико-механических х-к изделий. Цель изобретения - повышение точности измерения. Устр-во содержит СВЧ-г-р 1, пять направленных делителей мощности (НДМ) 2, 5, 6, 8 и 10, модулятор 3 одной.боковой полосы , волноводную скрутку 4 на 90 , передающую антенну 7,. три фазовращателя 9, 17 и 18, два тройника...

1282022


Аналоговое запоминающее устройство

Аналоговое запоминающее устройство

  Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано в блоках хранения аналоговых сигналов. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства за счет определения момента времени достижения входным сигналом максимального значения достигается введением в устройство формирователя синхроимпульсов , генератора пилообразного напряжения, бл...

1295453

Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления

Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля толщины композиционных покрытий металлов. Целью изобретения является повышение точности и чувствительности. Способ позволяет повысить точность при высокой локальности измерений за счет возбуждения в диэлектрическом волноводе двух ортогонально поляризованных волн и использования пол...

1753379