ДРОЗД АНАТОЛИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

  СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УРОВНЯ РАССЕЯНОГО СВЕТА В СПЕКТРОФО,ТОМЕТРАХ, заключающийся в том, что измеряют светопоглснцение двух образцов с известным отношением их светопоглощений и разными концентрациями светопоглощающих частиц, отличающийся тем, что, с целью повьшения точности, дополнительно измеряют концентрации образцов и разности светопоглощений между каждым из дЬух образцов и образцо...

  А1 „„SU, 1250411 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ) Ь - := Ф "..P —. СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИН ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (>1!, („ ) > f 1 (): 1 ;-(: > (1 f >I(.()! ()1 1!(1! 1, f! III> II II I ill,lлl I «, >»> д )pL7rC «» >,. 3 (>,» > (< >(. l! ! I ((Н> (! (»«.» < Л,>Ч I(j((((1j j((((>(3.:Nf < iI3«ы «ri 1,« < (,! r1«...

  Изобретение относится к производству полупроводниковых приборов, в частности к сборке и пайке кристаллической структуры к кристаллодержателю. Цель изобретения - повышение качества пайки. Сущность изобретения заключается в выборе температуры потока газа и времени выдержки элементов полупроводникового прибора в потоке нагретого газа. Использование данного способа обеспечивает сниже...