ПОТЫЛИЦЫН АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ НАПРАВЛЕНИЙ МОНОКРИСТАЛЛОВ, содержащее последовательно расположенные вдоль оси устройства источник электронов,. гониометр с монокристаллом и рассеиватель вторичного излучения монокристалла , а также детекторы вторичного излучения, установленные в плоскости, перпендикулярной оси устройства, по окружности на равном расстоянии от оси,...

  Изобретение относится к рентгендифракционным методам контроля структурного совершенства монокристаллов и может быть использовано для контроля при производстве монокристаллических образцов, приборов на их основе, а также монокристаллов, используемых в ядерно-физических экспериментах по изучению взаимодействия излучения с кристаллами. Целью изобретения является повышение экспресснос...