PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ФЕОКТИСТОВ ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ

Изобретатель ФЕОКТИСТОВ ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Интерференционный способ контроля асферических поверхностей

Интерференционный способ контроля асферических поверхностей

  ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ с помощью сферического пробного ст ла, заключающийся в том, что вьтол няют сферическое пробное стекло в виде концентрического мениска с эт лонной поверхностью, освещают конт ролируемую и эталлоную поверхности мениска из центра кривизны эталонной поверхности мениска, наблюдают из этого же центра кривизны интерференционную...

1185071

Интерферометр для контроля формы асферических поверхностей

Интерферометр для контроля формы асферических поверхностей

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - контроль поверхностей с большим гра- .диентом асферичности. Интерферометр включает поворотную сканирующую головку , состоящую из осветительной и измерительной систем и из светоделителя 7, пробное сферическое стекле у, 23 в виде концентрического мениска, центр кривизны эталонной поверхности которого совмещен с изобр...

1295211

Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов

Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для технологического и аттестационного контроля выпуклых параболоидов в оптическом приборостроении. Цель изобретения - расширение диапа зона контралируе и х поверхностей, вышение точности и производительности контроля благодаря тому, -что оптическая система позволяет направить в рабочую ветвь интерферометра с...

1425437

Устройство для контроля геометрии поверхностей оптических деталей и систем

Устройство для контроля геометрии поверхностей оптических деталей и систем

  Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить производительность контроля. Устр-во 6 для выделения контролируемых зон выполнено в виде оптических клиньев, установленньгх вдоль прямой, перпендикулярной оптической оси коллиматора , симметрично относительно этой оси. Величины преломляющих углов клиньев пропорциональны расстоянию клиньев от оптической оси коллима...

1425505

Интерференционный способ контроля вогнутых параболоидов

Интерференционный способ контроля вогнутых параболоидов

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля формы крупногабаритных вогнутых параболоидов. Целью изобретения является повышение точности контроля. Для этого освещение параболоида осуществляют коллимированным пучком с диаметром не менее 1/5 диаметра контролируемого параболоида параллельно его оси путем последовательного направления...

1515037


Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка

Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля за счет одновременного контроля всей рабочей зоны асферической поверхности второго порядка. Пучки лучей источника 1 монохроматического излучения собираются конденсором 2 на диафрагме 3. Затем проходят через светоделитель 4 и объектив 5. Параллельные пучки лучей после...

1523905

Измерительный микроскоп для контроля качества оптических деталей и систем

Измерительный микроскоп для контроля качества оптических деталей и систем

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптическом производстве для интерференционного технологического и аттестационного контроля оптических деталей и систем, в том числе с асферическими поверхностями, формирующих сферический волнлвой фронт. Цель изобретения - повышение производительности и точности контроля за счет того, что контроль осуществляе...

1580159

Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка

Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка

  Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля вогнутых эллипсоидов и параболоидов с рабочей центральной зоной и большими относительными отверстиями. Пель изобретения - повышение точности и производительности контрима . I. -от и :,;п ничшл затенения центральной «ас in контролируемой поверхности. Агп окодлимационное зеркало, выполненной в виде вогнуто 1...

1627829

Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка

Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка

  Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность и производительность контроля асфериче . ских поверхностей второго порядка с рабочей центральной зоной Благодаря этому полностью исключается экранирование всех зон контролируемой поверхности, в том числе центральной зоны Апланатическая линза радиусы кривизны которой подобраны так, что точка изображения пе...

1657947

Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка

Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка

  Изобретение относится к измеритель^ ной технике и может быть использовано для технологического и аттестационного контроля вогнутых параболоидов и зллипсоидов, в том числе с большими относительными отверстиями, в оптическом приборостроении. Цель изобретения - повышение точности контроля. Оптическая система интерферометра позволяет направить а ра-бочую ветвь световой пучок после одн...

1712778