ФЕОКТИСТОВ ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ
Изобретатель ФЕОКТИСТОВ ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
Интерференционный способ контроля асферических поверхностей
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ с помощью сферического пробного ст ла, заключающийся в том, что вьтол няют сферическое пробное стекло в виде концентрического мениска с эт лонной поверхностью, освещают конт ролируемую и эталлоную поверхности мениска из центра кривизны эталонной поверхности мениска, наблюдают из этого же центра кривизны интерференционную...
1185071Интерферометр для контроля формы асферических поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - контроль поверхностей с большим гра- .диентом асферичности. Интерферометр включает поворотную сканирующую головку , состоящую из осветительной и измерительной систем и из светоделителя 7, пробное сферическое стекле у, 23 в виде концентрического мениска, центр кривизны эталонной поверхности которого совмещен с изобр...
1295211Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для технологического и аттестационного контроля выпуклых параболоидов в оптическом приборостроении. Цель изобретения - расширение диапа зона контралируе и х поверхностей, вышение точности и производительности контроля благодаря тому, -что оптическая система позволяет направить в рабочую ветвь интерферометра с...
1425437Устройство для контроля геометрии поверхностей оптических деталей и систем
Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить производительность контроля. Устр-во 6 для выделения контролируемых зон выполнено в виде оптических клиньев, установленньгх вдоль прямой, перпендикулярной оптической оси коллиматора , симметрично относительно этой оси. Величины преломляющих углов клиньев пропорциональны расстоянию клиньев от оптической оси коллима...
1425505Интерференционный способ контроля вогнутых параболоидов
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля формы крупногабаритных вогнутых параболоидов. Целью изобретения является повышение точности контроля. Для этого освещение параболоида осуществляют коллимированным пучком с диаметром не менее 1/5 диаметра контролируемого параболоида параллельно его оси путем последовательного направления...
1515037Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности и производительности контроля за счет одновременного контроля всей рабочей зоны асферической поверхности второго порядка. Пучки лучей источника 1 монохроматического излучения собираются конденсором 2 на диафрагме 3. Затем проходят через светоделитель 4 и объектив 5. Параллельные пучки лучей после...
1523905Измерительный микроскоп для контроля качества оптических деталей и систем
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптическом производстве для интерференционного технологического и аттестационного контроля оптических деталей и систем, в том числе с асферическими поверхностями, формирующих сферический волнлвой фронт. Цель изобретения - повышение производительности и точности контроля за счет того, что контроль осуществляе...
1580159Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля вогнутых эллипсоидов и параболоидов с рабочей центральной зоной и большими относительными отверстиями. Пель изобретения - повышение точности и производительности контрима . I. -от и :,;п ничшл затенения центральной «ас in контролируемой поверхности. Агп окодлимационное зеркало, выполненной в виде вогнуто 1...
1627829Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка
Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность и производительность контроля асфериче . ских поверхностей второго порядка с рабочей центральной зоной Благодаря этому полностью исключается экранирование всех зон контролируемой поверхности, в том числе центральной зоны Апланатическая линза радиусы кривизны которой подобраны так, что точка изображения пе...
1657947Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка
Изобретение относится к измеритель^ ной технике и может быть использовано для технологического и аттестационного контроля вогнутых параболоидов и зллипсоидов, в том числе с большими относительными отверстиями, в оптическом приборостроении. Цель изобретения - повышение точности контроля. Оптическая система интерферометра позволяет направить а ра-бочую ветвь световой пучок после одн...
1712778