ПЕЧКИС ВАЙДОТАС ВАЦЛОВИЧ
Изобретатель ПЕЧКИС ВАЙДОТАС ВАЦЛОВИЧ является автором следующих патентов:
Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ ЗАЗОРОВ МЕЖДУ ДВУМЯ ПОВЕРХНОСТЯМИ , ОДНА ИЗ КОТОРЫХ ПРОЗРАЧНАЯ, содержащее оптически связанные источник света, светоделитель, светофильтр и фотоприемник и регистратор , отличающееся, тем, что, с целью повьппения точности измерений, оно снабжено пьезовибратором , связанным с непрозрачной . поверхностыо, и блоком формирования сигналов, включенным межд...
1188539Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является новышение точности измерения за счет регистрации промежуточных значений зазора и его калибровки . Устройство, содержащее генератор линейно возрастающего напряжения и рсциллограс), позволяет за счет калиброванного изменения зазора и контроля его по отсчетам осциллографа осуществлять регистрацию ре...
1305538Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и мо жет быть использовано для измерения динамического зазора между магнитной головкой и поверхностью диска внешних запоминающих устройств ЭВМ. Цель изобретения - повьшёние точности и быстродействия измерений за счет автоматизации процесса калибровки и измерений . Устройство содержит источник 1 света, оптическую систему, об...
1357710Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - расширение эксплуатационных возможностей путем обеспечения динамического измерения малых зазоров при относительном перемещении поверхностей. Интерферометр, образованный источником 1 света, щелевой диафрагмой 2, светоделителем 3, контролируемыми поверхностями 4 и 5, и линейка 6 фотоприемников осуществляют...
1446472Способ измерения малых зазоров между двумя поверхностями
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения малых зазоров. Цель изобретения - повышение достоверности за счет обеспечения одинаковой точности по всему диапазону измерения. Формируются шесть интерференционных картин, образованных сложением соответствующих оптически удлиненных лучей. Для области измерения с минимумами интерференционных картин с H=(-&l...
1479824