PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ТИМАКОВ ЛЕОНИД КОНСТАНТИНОВИЧ

Изобретатель ТИМАКОВ ЛЕОНИД КОНСТАНТИНОВИЧ является автором следующих патентов:

Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий

Вихретоковый толщиномер диэлектрических покрытий

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (19) (11) д11 4 G 01 N 27/90 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н ABTOPCHOMV СВИДГТЕПЬСТВУ, ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) .3748417/25-28 (22) 07.06.84 (46) 15.11.85.Бюл. Ф 42 (71) Московский ордена Ленина и ордена Октябрьской Революции энергетический институт (72). Е.Г.Беликов, В.А.Кислов, Л.К.Тимаков и А.П.Т...

1191814

Толщиномер диэлектрических покрытий

Толщиномер диэлектрических покрытий

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения расстояния до электропроводящих изделий, толщины диэлектрических покрытий, а также амплитуды вибрации . Толщиномер диэлектрических покрытий содержит автогенератор, .последовательно соединенные вихретоковый преобразователь (ВТП), фазочувствительный детектор, опорвЫЕЙ выход которого сое...

1216637

Вихретоковое устройство для измерения удельной электрической проводимости неферромагнитных изделий

Вихретоковое устройство для измерения удельной электрической проводимости неферромагнитных изделий

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике методом вихревых токов и может быть использовано в машиностроительной промьшшенности для разбраковки изделий и. материалов по физико-механическим свойствам . Цель изобретения - повышение точности контроля за счет исключения влияния на сигнал преобразователя вариаций зазора. Вихретоковое устройство для измерения удельной эле...

1224705

Вихретоковый способ измерения толщины покрытия

Вихретоковый способ измерения толщины покрытия

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и касается измерения толщины немагнитных металлических покрытий на металлах. Цель изобретения - расширение области использования за счет увеличения номенклатуры измеряемых покрытий и повышение точности измерений - достигается тем, что компенсацию выходного сигнала преобразователя осуществляют при наличии между преобразовател...

1543339

Вихретоковый способ определения толщины покрытий

Вихретоковый способ определения толщины покрытий

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к определению толщины немагнитных металлических покрытий на металлах. Цель изобретения - расширение номенклатуры материалов определяемых покрытий. Эта цель достигается тем, что удельную электрическую проводимость эталонного изделия выбирают равной удельной электрической проводимости покрытия, наиболее близкой к...

1562680


Устройство для двухпараметрового вихретокового контроля

Устройство для двухпараметрового вихретокового контроля

  Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля качества электропроводящих объектов. Повышение достоверхности контроля достигается за счет исключения погрешности, связанной с частотной нестабильностью фазовращателя, путем замены его сумматором и источником постоянного напряжения. С выхода фазометрического блока 8 постоянное напряжение, пропор...

1589194

Вихретоковый способ двухпараметрового контроля изделий

Вихретоковый способ двухпараметрового контроля изделий

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти широкое применение во всех отраслях народного хозяйства, например, для одновременного и независимого контроля толщины слоев изделия с двухслойным гальваническим покрытием, толщины покрытия и удельной электропроводности основы изделия с плакирующим слоем покрытия. Цель изобретения - повышение информативности за...

1608422

Способ контроля параметра электропроводящего слоя

Способ контроля параметра электропроводящего слоя

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является повышение точности контроля. Вихретоковый преобразователь размещают в зоне контроля, изменяют частоту тока возбуждения преобразователя в диапазоне, обеспечивающем проникновение электромагнитного поля на глубину от нескольких долей до величины, равной или большей толщины слоя, измеряют амплитуду вн...

1613941

Устройство для двухпараметрового неразрушающего контроля изделий

Устройство для двухпараметрового неразрушающего контроля изделий

  Изобретение относится к неразрушающему контролю качества материалов и изделий и может быть использовано в различных областях народного хозяйства для двухпараметрового контроля изделий, в частности для измерения толщины диэлектрического покрытия независимо от электромагнитных свойств основы Цель изобретения - повышение точности измерений в широком диапазоне вариаций контролируемог...

1619007

Вихретоковый способ измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящей основе

Вихретоковый способ измерения толщины диэлектрических покрытий на электропроводящей основе

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для вихретокового контроля толщины диэлектрических покрытий, расстояния до электропроводящих изделий, амплитуды вибраций и диаметра цилиндрических электропроводящих изделий. Цель изобретения - повышение точности и надежности измерений толщины диэлектрических покрытий - достигается тем, что частоту...

1619008