СОФРОНОВА СВЕТЛАНА ЮРЬЕВНА
Изобретатель СОФРОНОВА СВЕТЛАНА ЮРЬЕВНА является автором следующих патентов:

Способ определения параметров диэлектрической пленки
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДЮЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПЛЕНКИ, заключающийся в том, что пленку освещают излучением,поляризьванным в плоскости , перпендикулярной плоскости падения , последовательно изменяя угол падения, регистрируют поток отраженного излучения, определяют угол Брюстера, по которому вычисляют показатель преломления пленки, и определяют толщину пленки, Отличающийся тем, что,...
1193459
Способ определения неоднородности диэлектрической пленки на диэлектрической подложке
Изобретение относится к измерению размеров предметов или расстояний между предметами, о.снованному на оптических методах. Цель изобретенияупрощение способа. Всю поверхность исследуемой пленки на подложке освещают под углом Брюстера лучем белого света, поляризованным параллельно плоскости падения, наблюдают отраженный луч и по наличию и расположению цветовых пятен судят о наличии...
1363029