КАЦ АЛЕКСАНДР ИЗРАИЛЕВИЧ

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК ) / ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3715462/24-10 (22) 23.03.84 (46) 07.01.86. Бюл. № 1 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) О. М. Воробьев, П. И. Марков, А. И. Кац и О. А. Пичугова (53) 535.863 (088.8) (56) Патент ФРГ № 1253407, кл. 30...

  Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения пространственного положения машин и механизмов. Находящихся в труднодоступных зонах. Изобретение позволяет повысить точность дистанционного измерения размера и перемещения объекта путем упрощения кинематических связей между объективом и измерительной сеткой. Объектив вводят в исследуемую зону, расп...

  Изобретение относится к контрольно-измерительным средствам технической дефектации и диагностики. Цель, изобретения - повышение точности измерений. После объектива 1 установлен датчик 2 положения, выполненный в виде двух прямоугольных зеркал , большие оси симметрии которых параллельны. Одно из зеркал расйол ожено в плоскости, касательной первой преломляющей поверхности объектива I...

  Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности измерения коэффициента отражения. Излучение от источника 1 проходит призму 6, испытавая полное отражение, многократно отражается от исследуемого образца 5 и граней 17 и 19 и попадает на приемник 2 излучения. Полученный сигнал 1у сравнивается с сигналом 1 на приемнике 2, когда в поток введены приз...

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле удаленности объектов. Целью изобретения является расширение диапазона измерений. Путем фокусирования объективом 2 света от источника 1 на точечную диафрагму 3 за ней создают дифракционное поле с радиально симметричным спектральным распределением пучков. Пучок поля отклоняется аксиконом...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для одновременного измерения толщины слоев многослойных пленок. Цель изобретения - увеличение точности измерения толщины каждого слоя за счет учета поглощения излучения в каждом слое. Многослойная пленка 17 облучается вспышкой излучения сложного спектрального состава с помощью световода 6. Часть прошедшего изл...