ОХРИМЕНКО НИКОЛАЙ НИКИТОВИЧ

  Изобретение относится к исследованию кристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей и может быть использовано при изучении дефектов кристаллического строения реальных кристаллов. Исследуемый кристалл известной ориентации устанавливают в держатель образца, устанавливают нормаль к отражающей плоскости параллельно экваториальной плоскости гониометра при выводе кристалла в кососи...